В статье обобщены результаты электронно-микроскопических исследований «in situ» кристаллизации тонких аморфных плёнок. Анализ данных проведён на основе классификационной схемы электронно-лучевой кристаллизации плёнок, включающей структурно-морфологические и числовые характеристики. Выделены слоевая полиморфная кристаллизация (как аналог моды роста Франка–ван-дер-Мерве), островковая полиморфная кристаллизация (как аналог моды роста Фольмера–Вебера) и дендритная полиморфная кристаллизация (как аналог моды роста Странского–Крастанова). Для каждого типа кристаллизации определён безразмерный параметр относительной длины $\delta_0$, равный отношению характеристической длины к величине, связанной с размером элементарной ячейки кристалла. На основе электронно-микроскопической видеорегистрации процесса для каждого типа превращения построены кинетические кривые кристаллизации.