Воспроизведение остаточного деформационного поля в кристалле-анализаторе $LLL$-интерферометра

И. М. Фодчук, С. Н. Новиков, И. В. Яремчук

Черновицкий национальный университет имени Юрия Федьковича, ул. Коцюбинского, 2, 50012 Черновцы, Украина

Получена: 30.11.2015. Скачать: PDF

Проведён анализ влияния на формирование муаровой картины величины равномерно распределённых локальных сосредоточенных сил, действующих параллельно вектору дифракции $H$ на выходную поверхность анализатора $LLL$-интерферометра. Показано, что формирование новых деформационных муаровых полос происходит в переходной по знаку деформационной области вблизи сосредоточенных сил; форма муаровых полос отражает общее поле смещений, образованное рядом сосредоточенных сил; уменьшение обратной величины периода муаровых полос при удалении от ряда из сосредоточенных сил отражает поведение суммарного деформационного поля.

Ключевые слова: $LLL$-интерферометр, муаровые полосы, сосредоточенная сила, деформационное поле.

URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ru/abstract/v38/i03/0389.html

PACS: 07.60.Ly, 41.50.+h, 42.30.Ms, 61.05.cp, 61.72.Ff, 87.59.-e


ЦИТИРОВАННАЯ ЛИТЕРАТУРА
  1. L. Brügemann and E. K. E. Gerndt, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. A, 531, Nos. 1–2: 292 (2004). Crossref
  2. V. Holy, U. Pietsch, and T. Baumbach, High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (New York: Springer-Verlag: 2004).
  3. A. Snigirev, V. Kohn, I. Snigireva, and B. Lengeler, Phys. Rev. Lett., 103, No. 6: 064801 (2009). Crossref
  4. S. Kneip, C. McGuffey, J. L. Martins, S. F. Martins, C. Bellei, V. Chvykov, F. Dollar, R. Fonseca, C. Huntington, G. Kalintchenko, A. Maksimchuk, S. P. D. Mangles, T. Matsuoka, S. R. Nagel, C. A. J. Palmer, J. Schreiber, K. T. Phuoc, A. G. R. Thomas, V. Yanovsky, L. O. Silva, K. Krushelnick, and Z. Najmudin, Nature Phys., 6, No. 12: 980 (2010). Crossref
  5. U. Bonse and M. Hart, Appl. Phys. Lett., 6, No. 8: 155 (1965). Crossref
  6. В. В. Лидер, Успехи физических наук, 184, № 11: 1217 (2014). Crossref
  7. A. Momose, W. Yashiro, H. Maikusa, and Yo. Takeda, Optics Express, 17, No. 15: 12540 (2009). Crossref
  8. P. C. Diemoz, M. Endrizzi, C. E. Zapata, A. Bravin, R. D. Speller, I. K. Robinson, and A. Olivo, J. Instrumentation, 8, No. 6: C06002 (2013). Crossref
  9. Р. Becker, Rep. Prog. Phys., 64: 1945 (2001). Crossref
  10. L. Ferroglio, G. Mana, and E. Massa, Optics Express, 16, No. 21: 16877 (2008). Crossref
  11. З. Г. Пинскер, Рентгеновская кристаллооптика (Москва: Наука: 1982).
  12. И. М. Фодчук, Н. Д. Раранский, Я. М. Струк, И. В. Фесив, Металлофиз. новейшие технол., 24, № 5: 617 (2002).
  13. A. Authier, S. Lagomarsino, and B. K. Tanner, X-Ray and Neutron Dynamical Diffraction: Theory and Applications (Boston, MA: Springer: 1997).
  14. Н. Д. Раранский, В. П. Шафранюк, И. М. Фодчук, Металлофизика, 7, № 5: 63 (1985).
  15. I. M. Fodchuk and M. D. Raransky, J. Phys. D: Appl. Phys., 36: A55 (2003). Crossref
  16. І. М. Фодчук, М. Д. Раранський, Я. М. Струк, І. В. Фесів, УФЖ, 47, № 11: 1057 (2002).
  17. I. M. Fodchuk, S. M. Novikov, and A. Ya. Struk, Proc. SPIE, 8338: 83381B-1 (2011). Crossref
  18. И. М. Фодчук, С. Н. Новиков, Я. М. Струк, И. В. Фесив, Металлофиз. новейшие технол., 3, № 5: 711 (2013).
  19. M. Hart, Philos. Mag., 26, No. 4: 821 (1972). Crossref
  20. R. D. Deslettes and A. Henins, Phys. Rev. Lett., 31, No. 16: 972 (1973). Crossref
  21. А. Authier, Dynamical Theory of X-Ray Diffraction (New York: Oxford University Press: 2001).
  22. A. Ляв, Математическая теория упругости (Москва: Физматгиз: 1936).
  23. N. Kato, Acta Crystallogr., 16, No. 4: 122 (1963). Crossref
  24. В. Л. Инденбом, Ф. Н. Чуховський, Успехи физических наук, 6: 238 (1972).
  25. S. Takagi, J. Phys. Soc. Jpn., 26, No. 5: 1239 (1969). Crossref
  26. Y. Epelboin, J. Appl. Crystallogr., 7, No. 3: 372 (1974). Crossref