Влияние отжига на структуру поверхности плёнок Ni$

Влияние отжига на структуру поверхности плёнок Ni$_{2}$MnGa

Ю. Б. Скирта

Институт магнетизма НАН и МОН Украины, бульв. Академика Вернадского, 36б, 03680, ГСП, Киев-142, Украина

Получена: 29.09.2014; окончательный вариант - 14.08.2016. Скачать: PDF

Поверхность плёнок Ni$_{2}$MnGa исследована при помощи атомно-силовой, оптической и электронной микроскопий. Рассчитаны статистические параметры изображений поверхности плёнок. Разработан алгоритм выделения зёрен на изображениях. Исследованы закономерности влияния отжига на параметры поверхности плёнок.

Ключевые слова: атомно-силовая микроскопия, оптическая микроскопия, электронная микроскопия, структура поверхности, отжиг.

URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ru/abstract/v38/i09/1179.html

PACS: 07.05.Pj, 68.35.Ct, 68.37.Hk, 68.37.Ps, 68.55.J-, 68.65.Ac, 81.40.Ef

ЦИТИРОВАННАЯ ЛИТЕРАТУРА

K. Ullakko, J. K. Huang, C. Kantner, R. C. O’Handley, and V. V. Kokorin, Appl. Phys. Lett., 69: 1966 (1996). Crossref
В. Д. Бучельников, А. Н. Васильев, В. В. Коледов и др., УФН, 176, № 8: 900 (2006). Crossref
А. Н. Васильев, В. Д. Бучельников, Т. Такаги, В. В. Ховайло, Э. И. Эстрин, УФН, 173, № 6: 577 (2003). Crossref
А. Ф. Андреева, Н. Н. Крупа, Е. И. Крысюк и др., Электронное строение и свойства тугоплавких соединений и сплавов, наносистемы и их роль в физическом материаловедении: Труды Института проблем материаловедения им. И. Н. Францевича НАН Украины (Киев: ИПМ НАНУ: 2004), с. 121.
S. Guo, Y. Zhang, J. Li, B. Quan, Y. Qi, and X. Wang, J. Mater. Sci. Technol., 21, No. 2: 211 (2005). Crossref
S. Besseghini, T. Cavallin, V. Chernenko, E. Villa, V. Lvov, and M. Ohtsuka, Acta Mater., 56: 1797 (2008). Crossref
M. Suzuki, M. Ohtsuka, M. Matsumoto, Y. Murakami, D. Shindo, and K. Itagaki, Mater. Transactions, 43, No. 5: 861 (2002). Crossref
F. Bernard, P. Delobelle, C. Rousselot, and L. Hirsinger, Thin Solid Films, 518: 399 (2009). Crossref
В. Яншин, Г. Калинин, Обработка изображений на языке C для IBM PC (Москва: Мир: 1994).
Модуль обработки изображений ‘Image Analysis P9’: Справочное руководство ttp://www.ntmdt.ru/data/media/files/manuals/Russian/image_analysis_p9_rus_nov12.pdf
А. П. Гуляев, Металловедение (Москва: Металлургия: 1986).
К. Л. Чопра, Электрические явления в тонких плёнках (Москва: Мир: 1972).
І. О. Лисенко, В. О. Харченко, С. В. Кохан, А. В. Дворниченко, Металлофиз. новейшие технол., 35, № 6: 763 (2013).
V. Gelinas and D. Vidal, Powder Technol., 203: 254 (2010). Crossref
A. P. Chuklanov, S. A. Ziganshina, and A. A. Bukharaev, Surf. Interface Anal., 36: 679 (2006). Crossref
D. Nečas and P. Klapetek, Cent. Eur. J. Phys., 10, No. 1: 181 (2012). Crossref