Экспериментально исследованы особенности оптического поглощения и перколяции в тонких плёнках серебра различной толщины (2–20 нм). Также изучено влияние подслоёв кремния толщиной 0,5 нм в видимом и ближнем инфракрасном диапазонах длин волн (300–2500 нм) на плёнки серебра. Перколяционные явления в исследуемых тонких плёнках серебра обусловлены особенностями механизма роста и режимом формирования плёнки на аморфной стеклянной подложке. Показано, что подслои кремния массовой толщиной 0,5 нм уменьшают на $\Delta d$=5,5 нм пороговую толщину $d_{\textrm{c}}$ плёнок серебра, при которой перколяционный переход проявляется в оптических свойствах системы, что обусловлено более мелкокристаллической структурой плёнки серебра, сформированной на поверхности Si, и увеличением количества металлических островков на единицу площади подложки.