В работе с помощью теории Чуховского—Петрашеня для деформационной зависимости (ДЗ) интегральной интенсивности динамической дифракции (ИИДД) в кристаллах без дефектов показан характер изменения ДЗ ИИДД с толщиной кристаллов и с вариацией других условий дифракции. На этой основе, а также при использовании ряда экспериментов с реальными дефектными кристаллами и результатов теории полной интегральной интенсивности динамической дифракции (ПИИДД) в кристаллах с дефектами без изгиба построена аналитическая модель ДЗ ПИИДД в кристаллах с дефектами, пригодная для диагностики параметров структурных дефектов в кристаллах. Полученные эвристически выражения для ДЗ ПИИДД в кристаллах с дефектами учитывают ДЗ поглощательных и отражательных способностей кристаллов, вклад которых определяется параметрами модели ($\alpha$, $\beta$, $\gamma$, ...) как для брэгговской, так и для диффузной составляющих ПИИДД. Установлено, что достаточно точное описание ДЗ достигается с фиксированными параметрами и единого вида выражениями только в определённых узких диапазонах радиусов деформации. Однако эти параметры оказываются избирательно зависящими от каждого набора характеристик условий дифракции (длины волны, толщины кристаллов, индексов отражения, геометрии дифракции и др.). Показано, что эвристически построить модель ДЗ ПИИДД в кристаллах с дефектами как диагностический метод оказалось возможным только благодаря тому, что удалось факторизовать влияние микродефектов и параметра деформации отдельно на когерентную и на диффузную составляющие ПИИДД, но уберечь нефакторизованность их влияния на суммарную интенсивность ИИДД.