В роботі за допомогою теорії Чуховського—Петрашеня для деформаційної залежности (ДЗ) інтеґральної інтенсивности динамічної дифракції (ІІДД) у кристалах без дефектів показано характер зміни ДЗ ІІДД із товщиною кристалу та з варіяцією інших умов дифракції. На цій основі, а також при використанні ряду експериментів із реальними дефектними кристалами і результатів теорії повної інтеґральної інтенсивности динамічної дифракції (ПІІДД) у кристалах з дефектами без вигину побудовано аналітичну модель ДЗ ПІІДД у кристалах з дефектами, придатну для діягностики параметрів структурних дефектів у кристалах. Одержано евристичні вирази для ПІІДД у кристалах з дефектами, що враховують ДЗ поглинальних і відбивних здатностей кристалів, внесок яких визначається параметрами моделі ($\alpha$, $\beta$, $\gamma$, ...) як для Бреґґової, так і для дифузної складової ПІІДД. Встановлено, що достатньо точний опис ДЗ досягається з фіксованими параметрами і єдиного виду виразами тільки у визначених вузьких діяпазонах радіюсів деформації. Проте ці параметри виявляються вибірково залежними від кожного набору характеристик умов дифракції (довжини хвилі, товщини кристалів, індексів відбивання, геометрії дифракції та ін.). Показано, що евристично побудувати модель ДЗ ПІІДД у кристалах з дефектами як діягностичний метод виявилося можливим тільки завдяки тому, що вдалося факторизувати вплив мікродефектів і параметра деформації окремо на когерентну і на дифузну складові ПІІДД, але вберегти нефакторизованість їх впливу на сумарну інтенсивність ІІДД.