Наномасштабная поверхностная деформация гранулированных плёнок Со$_{25}$Ag$

Наномасштабная поверхностная деформация гранулированных плёнок Со $_{25}$ Ag $_{75}$

О. Ю. Горобец $^{1,2}$ , Ю. И. Якименко $^{2}$ , А. Ф. Кравец $^{1}$ , А. Н. Бруква $^{2}$ , В. Н. Захарченко $^{2}$ , С. В. Михалко $^{1}$ , И. А. Сизон $^{2}$

$^{1}$ Институт магнетизма НАН и МОН Украины, бульв. Академика Вернадского, 36б, 03142 Киев, Украина
$^{2}$ Национальный технический университет Украины «Киевский политехнический институт имени Игоря Сикорского», просп. Победы, 37, 03056 Киев, Украина

Получена: 02.09.2015. Скачать: PDF

Методом туннельной микроскопии исследовано влияние магнитного поля на плёнки гранулированных наноструктур Со $_{25}$ Ag $_{75}$ . Был обнаружен эффект гигантской нанодеформации с 10% изменением средней высоты поверхности образца в течение первичного намагничивания и 2% изменением после 8 дней релаксации во время повторного намагничивания. Зафиксированное явление связано с деформацией магнитных гранул и их смещением в немагнитной матрице под действием магнитного поля.

Ключевые слова: тонкая CoAg плёнка, магнитострикция, магнетик после воздействия, магнитная деформация, нанодеформация.

URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ru/abstract/v37/i11/1477.html

PACS: 68.37.Ef, 75.50.Ss, 75.60.Lr, 75.70.Ak, 75.70.Rf, 75.80.+q, 85.70.Kh

ЦИТИРОВАННАЯ ЛИТЕРАТУРА

A. E. Berkowitz, J. R. Mitchell, M. J. Carey, A. P. Young, S. Zang, F. E. Spada, F. T. Parker, A. Hutten, and G. Tomas, Phys. Rev. Lett., 68: 3745 (1992). Crossref
S. Honda, N. Nawate, M. Tanaka, and T. Okada, J. Appl. Phys., 82: 764 (1997). Crossref
K. P. Belov, Soros Educational Journal, 3: 112 (1998) (in Russian).
N. P. Lyakishev, Diagrammy Sostoyaniya Dvoynykh Metallicheskikh Sistem [State Diagrams of Binary Metal Systems] (Moscow: Mashinostroenie: 1996), vol. 1–2, p. 992 (in Russian).
Yu. G. Pogorelov, G. N. Kakazei, J. B. Sousa, A. F. Kravets, N. A. Lesnik, M. M. Pereira de Azevedo, M. Malinowska, and P. Panissod, Phys. Rev., 60: 12200 (1999). Crossref
Yu. I. Gorobets, A. F. Kravets, V. N. Zakharchenko, and О. М. Brukva, Research Bulletin of NTUU ‘KPI’, 6: 115 (2001) (in Ukrainian).
L. JingHua, J. ChengBao, and X. HuiBin, Sci. China, 55: 1319 (2012).
O. Söderberg, A. Sozinov, and V. K. Lindroos, Enc. Mat.: Sci. Techn., 5: 67 (2004).
A. Behera and S. C. Mishra, Int. J. Adv. Appl. Sci., 2: 205 (2013).