Наномасштабна поверхнева деформація гранульованих плівок Со$_{25}$Ag$_{75}$

О. Ю. Горобець$^{1,2}$, Ю. І. Якименко$^{2}$, А. Ф. Кравець$^{1}$, О. М. Бруква$^{2}$, В. Н. Захарченко$^{2}$, С. В. Михалко$^{1}$, І. А. Сизон$^{2}$

$^{1}$Інститут магнетизму НАН та МОН України, бульв. Академіка Вернадського, 36б, 03142 Київ, Україна
$^{2}$Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського», просп. Перемоги, 37, 03056 Київ, Україна

Отримано: 02.09.2015. Завантажити: PDF

Методою тунельної мікроскопії досліджено вплив магнетного поля на плівки ґранульованих наноструктур Со$_{25}$Ag$_{75}$. Було виявлено ефект гігантської нанодеформації з 10% зміною середньої висоти зразка впродовж первинного намагнетування і 2% зміною після 8 днів релаксації під час повторного намагнетування. Зафіксоване явище пов’язане із деформацією магнетних ґранул та їх зміщенням у немагнетній матриці під дією магнетного поля.

Ключові слова: тонка CoAg плівка, магнетострикція, магнетик після впливу, магнетна деформація, нанодеформація.

URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ua/abstract/v37/i11/1477.html

PACS: 68.37.Ef, 75.50.Ss, 75.60.Lr, 75.70.Ak, 75.70.Rf, 75.80.+q, 85.70.Kh


ЦИТОВАНА ЛІТЕРАТУРА
  1. A. E. Berkowitz, J. R. Mitchell, M. J. Carey, A. P. Young, S. Zang, F. E. Spada, F. T. Parker, A. Hutten, and G. Tomas, Phys. Rev. Lett., 68: 3745 (1992). Crossref
  2. S. Honda, N. Nawate, M. Tanaka, and T. Okada, J. Appl. Phys., 82: 764 (1997). Crossref
  3. K. P. Belov, Soros Educational Journal, 3: 112 (1998) (in Russian).
  4. N. P. Lyakishev, Diagrammy Sostoyaniya Dvoynykh Metallicheskikh Sistem [State Diagrams of Binary Metal Systems] (Moscow: Mashinostroenie: 1996), vol. 1–2, p. 992 (in Russian).
  5. Yu. G. Pogorelov, G. N. Kakazei, J. B. Sousa, A. F. Kravets, N. A. Lesnik, M. M. Pereira de Azevedo, M. Malinowska, and P. Panissod, Phys. Rev., 60: 12200 (1999). Crossref
  6. Yu. I. Gorobets, A. F. Kravets, V. N. Zakharchenko, and О. М. Brukva, Research Bulletin of NTUU ‘KPI’, 6: 115 (2001) (in Ukrainian).
  7. L. JingHua, J. ChengBao, and X. HuiBin, Sci. China, 55: 1319 (2012).
  8. O. Söderberg, A. Sozinov, and V. K. Lindroos, Enc. Mat.: Sci. Techn., 5: 67 (2004).
  9. A. Behera and S. C. Mishra, Int. J. Adv. Appl. Sci., 2: 205 (2013).