Роль рекристаллизации вольфрама в формировании шероховатости его поверхности под влиянием последовательного воздействия нейтронов и распыления
А. И. Беляева1, А. А. Галуза1,2, И. В. Koленов2,3, А. А. Савченко1
1Национальный технический университет «Харьковский политехнический институт», ул. Кирпичёва, 21, 61002 Харьков, Украина
2Институт электрофизики и радиационных технологий НАН Украины, ул. Чернышевского, 28, 61002 Харьков, Украина
3Институт радиофизики и электроники им. А.Я. Усикова НАН Украины, ул. Академика Проскуры, 12, 61085 Харьков, Украина
Получена: 20.07.2016. Скачать: PDF
Экспериментально изучена модификация структуры поверхности и изменение оптических свойств двух типов вольфрама (W-IG и W-rc) при воздействии факторов, имитирующих условия работы в Международном экспериментальном термоядерном реакторе (ИТЭР): последовательное воздействие нейтронов и атомов перезарядки (распыление). Впервые доказано, что рекристаллизация W-IG приводит к стабилизации структуры его поверхности и, как следствие, оптических характеристик. Проведённые комплексные исследования радиационных превращений поверхности позволили выяснить физические механизмы её эрозии под влиянием факторов ИТЭР и построить модели шероховатой поверхности. Впервые обоснована модель сосуществования двух типов шероховатости на поверхности W-IG и её модификации при рекристаллизации.
Ключевые слова: вольфрам, W-rc, W-IG, ИТЭР, рекристаллизация, нейтроны, атомы перезарядки, распыление, поверхность.
URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ru/abstract/v38/i08/1077.html
PACS: 07.60.Hv, 68.35.Ct, 68.37.Hk, 78.20.Ci, 81.10.Jt, 81.40.Tv, 81.70.Fy