Роль рекристалізації вольфраму в формуванні шерсткости його поверхні під впливом послідовної дії нейтронів і розпорошення
А. І. Беляєва1, О. А. Галуза1,2, І. В. Koленов2,3, А. О. Савченко1
1Національний технічний університет «Харківський політехнічний інститут», вул. Кирпичова, 21, 61002 Харків, Україна
2Інститут електрофізики та радіаційних технологій НАН УКраїни, вул. Чернишевського, 28, 61002 Харків, Україна
3Інститут радіофізики та електроніки ім. О.Я. Усикова НАН України, вул. Академіка Проскури, 12, 61085 Харків, Україна
Отримано: 20.07.2016. Завантажити: PDF
Експериментально досліджено модифікування структури поверхні та зміну оптичних властивостей двох типів вольфраму (W-IG і W-rc) під впливом чинників, що імітують умови роботи в Міжнародному експериментальному термоядерному реакторі (ІТЕР): послідовний вплив нейтронів та атомів перезарядки (розпорошення). Вперше доведено, що рекристалізація W-IG приводить до стабілізації структури його поверхні та, як наслідок, оптичних характеристик. Проведено комплексні дослідження радіяційних перетворень поверхні, що уможливили з’ясувати фізичні механізми її ерозії під впливом чинників ІТЕР і побудувати моделі шерсткости поверхні. Вперше обґрунтовано модель співіснування двох типів шерсткости на поверхні W-IG та її модифікування при рекристалізації.
Ключові слова: вольфрам, W-rc, W-IG, ІТЕР, рекристалізація, нейтрони, атоми перезарядки, розпорошення, поверхня.
URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ua/abstract/v38/i08/1077.html
PACS: 07.60.Hv, 68.35.Ct, 68.37.Hk, 78.20.Ci, 81.10.Jt, 81.40.Tv, 81.70.Fy