Роль рекристалізації вольфраму в формуванні шерсткости його поверхні під впливом послідовної дії нейтронів і розпорошення
А. І. Беляєва$^{1}$, О. А. Галуза$^{1,2}$, І. В. Koленов$^{2,3}$, А. О. Савченко$^{1}$
$^{1}$Національний технічний університет «Харківський політехнічний інститут», вул. Кирпичова, 21, 61002 Харків, Україна
$^{2}$Інститут електрофізики та радіаційних технологій НАН УКраїни, вул. Чернишевського, 28, 61002 Харків, Україна
$^{3}$Інститут радіофізики та електроніки ім. О.Я. Усикова НАН України, вул. Академіка Проскури, 12, 61085 Харків, Україна
Отримано: 20.07.2016. Завантажити: PDF
Експериментально досліджено модифікування структури поверхні та зміну оптичних властивостей двох типів вольфраму (W-IG і W-rc) під впливом чинників, що імітують умови роботи в Міжнародному експериментальному термоядерному реакторі (ІТЕР): послідовний вплив нейтронів та атомів перезарядки (розпорошення). Вперше доведено, що рекристалізація W-IG приводить до стабілізації структури його поверхні та, як наслідок, оптичних характеристик. Проведено комплексні дослідження радіяційних перетворень поверхні, що уможливили з’ясувати фізичні механізми її ерозії під впливом чинників ІТЕР і побудувати моделі шерсткости поверхні. Вперше обґрунтовано модель співіснування двох типів шерсткости на поверхні W-IG та її модифікування при рекристалізації.
Ключові слова: вольфрам, W-rc, W-IG, ІТЕР, рекристалізація, нейтрони, атоми перезарядки, розпорошення, поверхня.
URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ua/abstract/v38/i08/1077.html
PACS: 07.60.Hv, 68.35.Ct, 68.37.Hk, 78.20.Ci, 81.10.Jt, 81.40.Tv, 81.70.Fy