Влияние электромиграции на кинетику реакционной диффузии в системе Cu—Sn
С. В. Корниенко, Д. А. Зраев
Черкасский национальный университет им. Б. Хмельницкого, бульв. Шевченка, 81, 18031 Черкассы, Украина
Получена: 07.07.2016. Скачать: PDF
Проведено экспериментальное исследование реакционной диффузии в системе Cu—Sn под действием постоянного электрического тока плотностью 7,3$\cdot$10$^{7}$ А/м$^{2}$. Особенностью эксперимента было то, что конструкция исследуемого образца исключала возможность переноса атомов меди от катода к аноду через общий для них слой олова. При таких условиях рост фазы Cu$_{3}$Sn + Cu$_{6}$Sn$_{5}$ на аноде происходит быстрее, чем на катоде. Кинетика роста соответствует линейному временному закону $\Delta x \propto t$. С использованием модели процесса реакционной диффузии при электромиграции был проведён анализ полученных экспериментальных результатов.
Ключевые слова: электроперенос, реакционная диффузия, интерметаллическое соединение, Cu/Sn.
URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ru/abstract/v38/i10/1293.html
PACS: 64.70.kd, 64.75.St, 66.30.Ny, 66.30.Qa, 68.35.Dv, 68.35.Fx, 85.40.Ls