С целью создания статистической динамической теории рассеяния излучения в многослойных системах с различными по несовершенствам структуры и составу кристаллическими и аморфными слоями в качестве наиболее общего и главного элемента такой теории построена обобщённая теоретическая модель когерентного рассеяния в двухслойной кристаллической системе с аморфным поверхностным слоем и статистически распределёнными дефектами кулоновского типа в каждом слое. Получены выражения для когерентной составляющей отражательной способности указанной системы с использованием двух методов: метода суммирования амплитуд и метода граничных условий, что позволило выявить и описать механизм формирования интенсивности за счёт эффектов многократности рассеяния.