Статистична теоретична модель динамічної Бреґґової дифракції в двошаровій кристалічній системі з аморфним поверхневим шаром

С. В. Дмітрієв$^{1}$, С. В. Лізунова$^{1}$, М. Г. Толмачов$^{2}$, Б. В. Шелудченко$^{1}$, О. С. Скакунова$^{1}$, В. Б. Молодкін$^{1}$, В. В. Лізунов$^{1}$, І. Е. Голентус$^{1}$, А. Г. Карпов$^{2}$, О. Г. Войток$^{2}$, В. П. Почекуєв$^{2}$, С. П. Репецький$^{3}$, І. Г. Вишивана$^{3}$, Л. М. Скапа$^{1}$, О. В. Барабаш$^{3}$, Г. О. Веліховський$^{1}$

$^{1}$Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України, бульв. Академіка Вернадського, 36, 03142 Київ, Україна
$^{2}$ТОВ «Центр новітньої діагностики», бульв. Академіка Вернадського, 36, 03142 Київ, Україна
$^{3}$Київський національний університет імені Тараса Шевченка, вул. Володимирська, 60, 01033 Київ, Україна

Отримано: 04.09.2017. Завантажити: PDF

З метою створення статистичної динамічної теорії розсіяння випромінення у багатошарових системах з різними за недосконалостями структури та складом кристалічними й аморфними шарами в якості найбільш загального та головного елементу такої теорії побудовано узагальнену теоретичну модель когерентного розсіяння в двошаровій кристалічній системі з аморфним поверхневим шаром і статистично розподіленими дефектами Кулонового типу в кожному шарі. Одержано вирази для когерентної складової відбивної здатности вказаної системи з використанням двох методів: методу підсумовування амплітуд і методу крайових умов, що уможливило встановити й описати механізм формування інтенсивности за рахунок ефектів багаторазовости розсіяння. Проведено аналіз одержаних результатів та їх адаптацію до деяких практично важливих випадків.

Ключові слова: динамічна дифракція, багаторазовість розсіяння, аморфний поверхневий шар.

URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ua/abstract/v39/i12/1669.html

PACS:


ЦИТОВАНА ЛІТЕРАТУРА
  1. P. F. Fewster, Rep. Prog. Phys., 59: 1339 (1996). Crossref
  2. U. Pietsch, V. Holy, and T. Baumbach, High-Resolution X-Ray Scattering. From Thin Films to Lateral Nanostructures (New York: Springer-Verlag: 2004). Crossref
  3. A. M. Afanasev, M. V. Kovalchuk. E. K. Kovev, and V. G. Kohn, phys. status solidi (a), 42: 415 (1977). Crossref
  4. В. Б. Молодкин, М. В. Ковальчук, И. М. Карнаухов, В. Ф. Мачулин, В. Е. Сторижко, Э. Х. Мухамеджанов, А. И. Низкова, С. В. Лизунова, Е. Н. Кисловский, С. И. Олиховский, Б. В. Шелудченко, С. В. Дмитриев, Е. С. Скакунова, В. В. Молодкин, В. А. Бушуев, Р. Н. Кютт, Б. С. Карамурзов, Т. И. Оранова, Ю. П. Хапачев, Основы динамической высокоразрешающей дифрактометрии функциональных материалов (Нальчик: Кабардино-Балкарский университет: 2013).
  5. В. Б. Молодкин, М. В. Ковальчук, И. М. Карнаухов, В. Е. Сторижко, С. В. Лизунова, С. В. Дмитриев, А. И. Низкова, Е. Н. Кисловский, В. В. Молодкин, Е. В. Первак, А. А. Катасонов, Е. С. Скакунова, Б. С. Карамурзов, А. А. Дышеков, А. Н. Багов, Т. И. Оранова, Ю. П. Хапачев, Основы интегральной многопараметрической диффузнодинамической дифрактометрии (Нальчик: Кабардино-Балкарский университет: 2013).
  6. З. Г. Пинскер, Рентгеновская кристаллооптика (Москва: Наука: 1982).
  7. Л. И. Даценко, В. Б. Молодкин, М. Е. Осиновский, Динамическое рассеяние рентгеновских лучей реальными кристаллами (Киев: Наукова думка: 1988).
  8. С. В. Дмитриев, Р. В. Лехняк, В. Б. Молодкин, В. В. Лизунов, Л. Н. Скапа, Е. С. Скакунова, С. В. Лизунова, С. И. Олиховский, Е. Г. Лень, Н. Г. Толмачёв, Б. В. Шелудченко, Е. В. Фузик, Г. О. Велиховский, Металлофиз. новейшие технол., 37, № 9: 1169 (2015). Crossref
  9. T. Vreeland, A. Dommann. C.-J. Tsai, and M.-A. Nicolet, Mat. Res. Soc. Symp. Proc., 130: 1989 (2011).