Статистична теоретична модель динамічної Бреґґової дифракції в двошаровій кристалічній системі з аморфним поверхневим шаром
С. В. Дмітрієв$^{1}$, С. В. Лізунова$^{1}$, М. Г. Толмачов$^{2}$, Б. В. Шелудченко$^{1}$, О. С. Скакунова$^{1}$, В. Б. Молодкін$^{1}$, В. В. Лізунов$^{1}$, І. Е. Голентус$^{1}$, А. Г. Карпов$^{2}$, О. Г. Войток$^{2}$, В. П. Почекуєв$^{2}$, С. П. Репецький$^{3}$, І. Г. Вишивана$^{3}$, Л. М. Скапа$^{1}$, О. В. Барабаш$^{3}$, Г. О. Веліховський$^{1}$
$^{1}$Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України, бульв. Академіка Вернадського, 36, 03142 Київ, Україна
$^{2}$ТОВ «Центр новітньої діагностики», бульв. Академіка Вернадського, 36, 03142 Київ, Україна
$^{3}$Київський національний університет імені Тараса Шевченка, вул. Володимирська, 60, 01033 Київ, Україна
Отримано: 04.09.2017. Завантажити: PDF
З метою створення статистичної динамічної теорії розсіяння випромінення у багатошарових системах з різними за недосконалостями структури та складом кристалічними й аморфними шарами в якості найбільш загального та головного елементу такої теорії побудовано узагальнену теоретичну модель когерентного розсіяння в двошаровій кристалічній системі з аморфним поверхневим шаром і статистично розподіленими дефектами Кулонового типу в кожному шарі. Одержано вирази для когерентної складової відбивної здатности вказаної системи з використанням двох методів: методу підсумовування амплітуд і методу крайових умов, що уможливило встановити й описати механізм формування інтенсивности за рахунок ефектів багаторазовости розсіяння. Проведено аналіз одержаних результатів та їх адаптацію до деяких практично важливих випадків.
Ключові слова: динамічна дифракція, багаторазовість розсіяння, аморфний поверхневий шар.
URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ua/abstract/v39/i12/1669.html
PACS: