Processing math: 100%
Выпуски МФиНТ »  Том 40, выпуск 2

Термоэлектрические свойства массива углеродных нанотрубок при одноосном сжатии после отжига

М. М. Нищенко1, Г. Ю. Михайлова1, Б. В. Ковальчук1, И. М. Сидорченко1, В. В. Аникеев1, Н. А. Шевченко1, В. Н. Порошин2, Г. П. Приходько3

1Институт металлофизики им. Г.В. Курдюмова НАН Украины, бульв. Академика Вернадского, 36, 03142 Киев, Украина
2Институт физики НАН Украины, просп. Науки, 46, 03028 Киев, Украина
3Институт химии поверхности им. А.А. Чуйко НАН Украины, ул. Генерала Наумова, 17, 03164 Киев, Украина

Получена: 27.11.2017. Скачать: PDF

Изучено влияние отжига в вакууме до 105 Па в диапазоне температур 300–1150°C на электропроводность, термоэдс и упругие характеристики массива многослойных углеродных нанотрубок (МУНТ) при изменении его плотности. Показано, что при одноосной деформации происходит ориентированная упаковка МУНТ, что приводит к снижению коэффициента Зеебека до 15%, а отжиг при температуре до 950°C способствует его снижению на 5% для всех степеней сжатия.

Ключевые слова: углеродные нанотрубки, высокотемпературный отжиг, электропроводность, термоэдс, коэффициент Зеебека.

URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ru/abstract/v40/i02/0169.html

PACS: 62.23.Pq, 62.25.-g, 72.20.Pa, 72.80.Rj, 73.50.Lw, 81.07.Oj, 81.40.Vw

ЦИТИРОВАННАЯ ЛИТЕРАТУРА
  1. L. D. Hicks and M. S. Dresselhaus, Phys. Rev. B, 47, No. 19: 12727 (1993). Crossref
  2. G. S. Nolas, J. Sharp, and H. J. Goldsmid, Thermoelectrics: Basic Principles and New Materials Developments (New York: Springer-Verlag: 2001). Crossref
  3. А. В. Дмитриев, И. П. Звягин, УФН, 180, № 8: 821 (2010). Crossref
  4. C. J. Vineis, A. Shakouri, A. Majumdar, and M. G. Kanatzidis, Adv. Mater., 22: 3970 (2010). Crossref
  5. А. А. Снарский, А. К. Сарычев, И. В. Безсуднов, А. Н. Лагарьков, Физика и техника полупроводников, 46, вып. 5: 677 (2012).
  6. А. В. Елецкий, УФН, 172, № 4: 401 (2002). Crossref
  7. Л. П. Булат, Д. А. Пшенай-Северин, ФТТ, 52, вып. 3: 452 (2010).
  8. А. В. Шевельков, Успехи химии, 77, № 1: 3 (2008).
  9. Л. П. Булат, Л. В. Бочковa, И. А. Нефедовa, Р. Ахыска, Научно-технический вестник информационных технологий, механики и оптики, № 4: 48 (2014).
  10. H. Kajiura, A. Nandyala, and A. Bezryadin, Carbon, 43: 1317 (2005). Crossref
  11. Н. А. Азаренков, В. М. Береснев, А. Д. Погребняк, Наноматериалы, нанопокрытия, нанотехнологии: Учебное пособие (Харьков: ХНУ им. В. Н. Каразина: 2009).
  12. А. С. Лобач, Н. Г. Спицына, С. В. Терехов, Е. Д. Образцова, ФTT, 44, вып. 3: 457 (2002).
  13. П. Н. Гневко, А. В. Окотруб, Л. Г. Булушуева, И. В. Юшина, ФТТ, 48, вып. 5: 947 (2006).
  14. Е. А. Ковальская, Н. Т. Картель, Г. П. Приходько, Ю. И. Семенцов, ХФТП, 3, № 1: 20 (2012).
  15. Д. А. Усанов, А. В. Скрипаль, А. В. Романов, Журнал технической физики, 84, вып. 6: 86 (2014).
  16. Р. А. Браже, В. С. Нефёдов, ФТТ, 54, вып. 7: 1435 (2012).
  17. А. В. Мавринский, Е. М. Байтингер, Физика и техника полупроводников, 43, вып. 4: 501 (2009).
  18. Е. А. Беленков, Ю. А. Зинатулина, Вестник Челябинского государственного университета, № 25: 32 (2005).
  19. Г. Ю. Михайлова, М. М. Нищенко, И. М. Сидорченко, В. В. Аникеев, Б. В. Ковальчук, В. М. Лазоренко, В. Н. Пименов, Ю. Ф. Суская, В. И. Товтин, Д. Э. Азнакаева, В. Н. Порошин, Г. П. Приходько, Сборник научных трудов VI Международной научной конференции «Функциональная база наноэлектроники» (30 сентября–4 октября 2013, Алушта), с. 32.
  20. Y. A. Kim, H. Muramatsu, T. Hayashi, M. Endo, M. Terrones, and M. S. Dresselhaus, Chem. Phys. Lett., 398, Nos. 1–3: 87 (2004). Crossref
  21. М. М. Нищенко, Г. Ю. Михайлова, Е. И. Архипов, В. Ю. Кода, Г. П. Приходько, Ю. И. Семенцов, Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології, 7, № 3: 717 (2009).
  22. Y. Wang, J. Wu, and F. Wei, Carbon, 41, No. 15: 2939 (2003). Crossref
  23. M. Yudasaka, H. Kataura, and T. Ichihashi, Nano Lett., 1, No. 9: 487 (2001). Crossref
  24. A. Koshio, M. Yudasaka, and S. Iijima, J. Phys. Chem. C, 111, No. 1: (2007). Crossref
  25. M. Yudasaka, T. Ichihashi, D. Kasuya, H. Kataura, and S. Iijima, Carbon, 41, No. 6: 487 (2003). Crossref
  26. R. Andrews, D. Jacques, D. Qian, and E. C. Dickey, Carbon, 39: 1681 (2001). Crossref
  27. W. Huang, Ya. Wang, G. Luo, and F. Wei, Carbon, 41: 2585 (2003). Crossref
  28. Y. A. Kim, T. Hayashi, K. Osawa, M. S. Dresselhaus, and M. Endo, Chem. Phys. Lett., 380, No. 3: 319 (2003). Crossref
  29. I. Mazov, V. L. Kuznetsov, I. A. Simonova, A. I. Stadnichenko, A. V. Ishchenko, A. I. Romanenko, E. N. Tkachev, and O. B. Anikeeva, Appl. Surf. Sci., 258: 6272 (2012). Crossref
  30. Л. И. Анатычук, Термоэлементы и термоэлектрические устройства (Киев: Наукова думка: 1979).
  31. Y. Wang, J. Wu, and F. Wei, Carbon, 41, No. 15: 2939 (2003). Crossref
  32. В. В. Аникеев, Б. В. Ковальчук, В. М. Лазоренко, Г. Ю. Михайлова, М. М. Нищенко, В. Н. Пименов, Г. П. Приходько, С. И. О. Садыхов, В. И. Товтин, Перспективные материалы, № 11: 26 (2015).
  33. V. V. Anikeev, B. V. Kovalchuk, V. M. Lazorenko, G. Yu. Mikhailova, M. M. Nishchenko, V. N. Pimenov, I. M. Sidorchenko, Yu. F. Suskaya, and V. I. Tovtin, Inorganic Materials: Applied Research, 5, Iss. 2: 138 (2014). Crossref
  34. K. S. Novoselov, A. K. Geim, S. V. Morozov, D. Jiang, M. I. Katsnelson, I. V. Grigorieva, S. V. Dubonos, and A. A. Firsov, Nature Letters, 438, No. 10: 197 (2005). Crossref
  35. Э. Р. Блайт, Д. Блур, Электрические свойства полимеров (Москва: Физматлит: 2008) (пер. с англ.).
  36. A. V. Dolbin, V. B. Esel’son, V. G. Gavrilko, V. G. Manzhelii, N. A. Vinnikov, R. M. Basnukaeva, I. I. Yaskovets, I. Yu. Uvarova, and B. A. Danilchenko, Low Temp. Phys., 40: 246 (2014). Crossref
  37. В. В. Аникеев, Б. В. Ковальчук, В. М. Лазоренко, Г. Ю. Михайлова, М. М. Нищенко, В. Н. Пименов, Г. П. Приходько, С. И. О. Садыхов, В. И. Товтин, Перспективные материалы, № 11: 48 (2015).
  38. С. В. Ельцов, Н. А. Водолазкая, Физическая и коллоидная химия: Учебное пособие (Харьков: Харьковский национальный университет им. В. Н. Каразина: 2005).
  39. М. М. Нищенко, Н. А. Шевченко, В. И. Патока, В. Л. Свечников, И. Е. Фоменко, Д. В. Щур, А. Г. Дубовой, VIII Международная конференция ICHMS (14–20 сентября 2003, Судак, Украина), с. 614.

© 2013–2018 «ИМФ НАН Украины»