Processing math: 100%

Влияние подслоёв германия на оптическую проводимость тонких плёнок золота

Р. И. Бигун1, З. В. Стасюк1, О. В. Строганов1, Д. С. Леонов2

1Львовский национальный университет имени Ивана Франко, ул. Университетская, 1, 79000 Львов, Украина
2Технический центр НАН Украины, ул. Покровская, 13, 04070 Киев, Украина

Получена: 25.05.2018. Скачать: PDF

Экспериментально исследованы особенности оптического поглощения и перколяции в тонких плёнках золота различной толщины (2–20 нм) и влияния на них подслоёв германия массовой толщиной 0,5 нм, предварительно нанесённых на стеклянную подложку, в видимом и ближнем инфракрасном диапазонах длин волн (300–2500 нм). Оптическая и электрическая перколяции в тонких плёнках золота связаны с механизмом роста и режимом формирования плёнки золота на аморфной стеклянной подложке. Показано, что подслои германия уменьшают пороговую толщину оптического перколяционного перехода в плёнках золота на Δd = 2,4 нм, а также увеличивают способность плёнки поглощать свет, что обусловлено более мелкокристаллической структурой плёнки металла и, соответственно, увеличением количества изолированных металлических островков на единице площади поверхности стеклянной подложки.

Ключевые слова: тонкие металлические плёнки, подслои субатомной толщины, оптическая и электрическая перколяции.

URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ru/abstract/v40/i07/0931.html

PACS: 64.60.ah, 73.50.Gr, 73.61.At, 73.63.Bd, 78.20.Ci, 78.66.Bz, 81.15.Kk


ЦИТИРОВАННАЯ ЛИТЕРАТУРА
  1. A. Axelevitch, B. Gorenstein, and G. Golan, Physics Procedia, 32: 1 (2012). Crossref
  2. P. Smilauer, Contemporary Physics, 32, No. 2: 89 (1991). Crossref
  3. S. Ding, X. Wang, D. J. Chen, and Q. Q. Wang, Optics Express, 14, No. 4: 1541 (2006). Crossref
  4. Р. І. Бігун, З. В. Стасюк, О. В. Строганов, В. М. Гаврилюх, Д. С. Леонов, Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології, 13, вип. 3: 459 (2015).
  5. Р. І. Бігун, З. В. Стасюк, О. В. Строганов, Д.С. Леонов, Металлофиз. новейшие технол., 39, № 6: 743 (2017). Crossref
  6. S. V. Dukarov, S. I. Petrushenko, V. N. Sukhov, and I. G. Churilov, Problems Atomic Sci. Technol., 89, No. 1: 110 (2014).
  7. N. Kaiser, Appl. Optics, 41, No. 16: 3053 (2002). Crossref
  8. N. T. Gladkikh, S. V. Dukarov, and V. N. Sukhov, Физика металлов и металловедение, 78, № 3: 87 (1994).
  9. С. И. Петрушенко, С. В. Дукаров, В. Н. Сухов, И. Г. Чурилов, Журнал нано- та електронної фізики, 7, № 2: 02033(6) (2015).
  10. Р. І. Бігун, В. М. Гаврилюх, З. В. Стасюк, Д. С. Леонов, Металлофиз. новейшие технол., 37, № 3: 317 (2015). Crossref
  11. M. Cesaria, A. P. Caricato, and M. Martino, J. Opt., 14: 105701 (2012). Crossref
  12. X. Sun, R. Hong, H. Hon, Zh. Fan, and J. Shao, Thin Solid Films, 515: 6962 (2007). Crossref
  13. N. A. Hegab and H. M. El-Mallah, Acta Physica Polonica A, 118, No. 4: 637 (2010). Crossref
  14. R. T. Phillips, J. Phys. D: Appl. Phys., 16: 489 (1983). Crossref
  15. R. E. Denton, R. D. Campbell, and S. G. Tomlin, J. Phys. D: Appl. Phys., 5: 852 (1972). Crossref
  16. P. B. Johnson and R. W. Christy, Phys. Rev. B, 6, No. 12: 4370 (1972). Crossref
  17. N. El-Kadry, Acta Physica Polonica A, 86: 375 (1994). Crossref
  18. CRC Handbook of Chemistry and Physics: A Ready-Reference of Chemical and Physical Data. 85th Ed. (Ed. D. R. Line) (Boca Raton, FL: CRC Press LLC: 2004), J. Am. Chem. Soc., 127, No. 12: 4542 (2005). Crossref
  19. M. A. Ordal, R. J. Bell, R. W. Alexander, L. L. Long, and M. R. Querry, Applied Optics, 24, No. 24: 4493 (1985). Crossref
  20. A. I. Maaroof and G.B. Smith, Thin Solid Films, 485: 198 (2005). Crossref
  21. Y. Jiang, S. Pillai, and M. A. Green, J. Appl. Phys., 120: 233109 (2016). Crossref
  22. A. F. Mayadas, M. Shatzkes, and J. F. Janak, Appl. Phys. Lett., 14, Iss. 11: 345 (1969). Crossref
  23. A. F. Mayadas and M. Shatzkes, Phys. Rev. B: Solid State, B4: 1382 (1970). Crossref
  24. C. R. Tellier and A. J. Tosser, Thin Solid Films, 33: L19 (1976). Crossref
  25. C. R. Tellier and A. J. Tosser, Thin Solid Films, 44: 141 (1977). Crossref
  26. C. R. Tellier, A. J. Tosser, and C. Boutrit, Thin Solid Films, 44: 201 (1977). Crossref
  27. C. R. Tellier, Thin Solid Films, 51, No. 3: 311 (1978). Crossref
  28. C. R. Tellier and A. J. Tosser, Size Effects in Thin Solid Films (Amsterdam: Elsevier: 1982).
  29. C. R. Pichard, C. R. Tellier, and A. J. Tosser, Thin Solid Films, 62, No. 2: 189 (1979). Crossref
  30. C. R. Pichard, C. R. Tellier, and A. J. Tosser, J. Phys. F: Metal. Phys., 10: L101 (1980). Crossref
  31. M. Bedda, C. R. Pichard, and A. J. Tosser, J. Mat. Sci., 21: 1405 (1986). Crossref
  32. H. Tijani, S. Messaadi, C. R. Pichard, and A. J. Tosser. J. Mat. Sci., 23, No. 1: 293 (1988). Crossref
  33. A. J. Tosser, C. R. Pichard, M. Lahrichi, and M. Bedda, J. Mat. Sci. Lett., 4, No. 5: 585 (1985). Crossref