Эвристическая модель деформационной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции для диагностики монокристаллов с дефектами нескольких типов
В. Б. Молодкин, А. И. Низкова, В. В. Лизунов, В. В. Молодкин, С. В. Дмитриев, Л. И. Макаренко, О. С. Кононенко, И. И. Демчик, Н. П. Ирха
Институт металлофизики им. Г. В. Курдюмова НАН Украины, бульв. Академика Вернадского, 36, 03142 Киев, Украина
Получена: 17.06.2018. Скачать: PDF
С целью разработки подхода для диагностики несовершенств монокристаллов методом деформационной зависимости (ДЗ) полной интегральной интенсивности динамической дифракции (ПИИДД) предложена соответствующая эвристическая модель, справедливая в случаях, когда диффузная составляющая ПИИДД может быть соизмеримой с её когерентной составляющей или существенно превышать её. При этом измерения ДЗ ПИИДД при различных условиях дифракции и в разных областях деформации позволяют определять как параметры дефектной структуры, так и необходимые, изменяющиеся за счёт дефектов характеристики ДЗ. В результате была создана упрощённая модель диагностики хаотически распределённых дефектов методом ДЗ ПИИДД при отсутствии сегодня строгой теоретической модели, необходимой для этого случая, но без использования при этом эталонных образцов.
Ключевые слова: интегральная динамическая дифрактометрия, диффузное рассеяние, микродефекты.
URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ru/abstract/v40/i09/1133.html
PACS: 61.05.cc, 61.05.cf, 61.05.cp, 61.72.Dd, 61.72.Lk, 81.40.Ef