Евристичний модель деформаційної залежности повної інтеґральної інтенсивности динамічної дифракції для діягностики монокристалів з дефектами декількох типів
В. Б. Молодкін, Г. І. Низкова, В. В. Лізунов, В. В. Молодкін, С. В. Дмітрієв, Л. І. Макаренко, О. С. Кононенко, І. І. Демчик, Н. П. Ірха
Інститут металофізики ім. Г. В. Курдюмова НАН України, бульв. Академіка Вернадського, 36, 03142 Київ, Україна
Отримано: 17.06.2018. Завантажити: PDF
З метою розробки підходу для діягностики недосконалостей монокристалів методою деформаційних залежностей (ДЗ) повної інтеґральної інтенсивности динамічної дифракції (ПІІДД) запропоновано відповідний евристичний модель, який є справедливим у випадках, коли дифузна складова ПІІДД може бути порівнянною з її когерентною складовою або значно перевищувати її. При цьому вимірювання ДЗ ПІІДД за різних умов дифракції та в різних областях деформації уможливлюють визначати як параметри дефектної структури, так і необхідні характеристики ДЗ, що змінюються за рахунок дефектів. В результаті було створено спрощений модель діягностики хаотично розподілених дефектів методою ДЗ ПІІДД за відсутности сьогодні точного теоретичного моделю, потрібного для цього випадку, але без використання при цьому еталонних зразків.
Ключові слова: інтеґральна динамічна дифрактометрія, дифузне розсіяння, мікродефекти.
URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ua/abstract/v40/i09/1133.html
PACS: 61.05.cc, 61.05.cf, 61.05.cp, 61.72.Dd, 61.72.Lk, 81.40.Ef