Экспериментально измерены угловые зависимости эллипсометрических параметров $\psi$ и $\Delta$ при внешнем отражении и коэффициента внутреннего отражения света для гибридных структур на основе тонких плёнок Au, Ag или Cu, защищённых диэлектрическими слоями HfO$_2$ или MgF$_2$. С помощью матричного метода для указанных многослойных систем рассчитаны соответствующие угловые зависимости. Несмотря на различия, полученные при моделировании оптических характеристик образцов между обычным (внешнее отражение) и поляритонным (внутреннее отражение) режимами, теоретические результаты хорошо согласуются с экспериментальными данными. Вычислены угловые положения плазмонных минимумов коэффициента внутреннего отражения в геометрии Кречмана для всех образцов в зависимости от показателя преломления $n$ вещества, нанесённого на соответствующую многослойную структуру. Величина смещения этих минимумов практически одинакова для всех исследованных структур и составляет около 100° на единицу прироста $n$ в окрестности $n$ = 1,20. Это позволяет оценить эффективность данных структур в качестве сенсоров, функционирующих на эффекте возбуждения поверхностного плазмонного резонанса.