Искусственная нейронная сеть как составляющая интеллектуальной прецизионной гониометрической системы анализа интенсивности спектрального распределения и определения химического состава металлосодержащих материалов
И. Ю. Черепанская$^{1}$, Ю. Н. Коваль$^{2,3}$, Е. Н. Безвесильная$^{3}$, А. Ю. Сазонов$^{3}$, С. Н. Кедровский$^{2,3}$
$^{1}$Житомирский национальный агроэкологический университет, ул. Старый бульвар, 7, 10008 Житомир, Украина
$^{2}$Институт металлофизики им. Г. В. Курдюмова НАН Украины, бульв. Академика Вернадского, 36, 03142 Киев, Украина
$^{3}$Национальный технический университет Украины «Киевский политехнический институт имени Игоря Сикорского», просп. Победы, 37, 03056 Киев, Украина
Получена: 05.06.2020. Скачать: PDF
Предложено искусственную нейронную сеть (ИНС), которая позволяет осуществлять экспресс-анализ химического состава металлосодержащих материалов объектов производства в автоматическом режиме с высокой точностью и быстродействием в реальном времени. Предлагаемая ИНС автоматического распознавания химических веществ (ИНС-АРХВ) является альтернативой традиционным дорогостоящим и трудоёмким физико-химическим методам и маркировочному анализу, которые значительно усложняют и замедляют технологические процессы, а также являются экологически опасными для здоровья людей и окружающей среды. Средняя квадратичная погрешность работы предлагаемой ИНС-АРХВ не превышает 5%, время определения химического состава металлосодержащих материалов объектов производства не более 2,5 с. ИНС-АРХВ построена по принципу многослойного персептрона с настраиваемой структурой нейронов и практически реализована в виде соответствующего программного продукта. Последнее обеспечивает её универсальность в плане возможности переобучения и перенастройки при возникновении новых задач в соответствии с быстро изменяющимися условиями современного динамичного производства.
Ключевые слова: искусственная нейронная сеть, фоточувствительная CMOS-матрица, лазер, химический состав, спектральное распределение, ток насыщения, длина световой волны, чувствительность фотоэлементов.
URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ru/abstract/v42/i10/1441.html
PACS: 07.05.Mh, 07.60.-j, 07.81.+a, 61.82.Bg, 79.60.-i, 81.70.Jb