Возможности диагностики нескольких типов дефектов кристалла на основе эффекта различного влияния дефектов разного типа на деформационную зависимость полной интегральной интенсивности динамической дифракции

В. В. Лизунов, С. М. Бровчук, А. И. Низкова, В. Б. Молодкин, С. В. Лизунова, Б. В. Шелудченко, А. И. Гранкина, И. И. Рудницкая, С. В. Дмитриев, Н. Г. Толмачёв, Р. В. Лехняк, Л. Н. Скапа, Н. П. Ирха

Институт металлофизики им. Г.В. Курдюмова НАН Украины, бульв. Академика Вернадского, 36, 03680, ГСП, Киев-142, Украина

Получена: 07.07.2014. Скачать: PDF

В работе установлено и количественно проанализировано различие деформационных зависимостей (ДЗ) когерентной ($R_{ib}$) и диффузной ($R_{id}$) составляющих полной интегральной интенсивности динамической дифракции (ПИИДД) как между собой, так и для каждого из нескольких типов дефектов, одновременно присутствующих в монокристаллическом образце. Это открывает принципиальную возможность определения параметров дефектов разного типа при использовании (наряду с вариацией условий дифракции) различных участков ДЗ ПИИДД с резкой ДЗ $R_{id}/R_{ib}$ (вклада диффузной составляющей). Показано, что при изменении условий Лауэ-дифракции от соответствующих приближению толстого кристалла к соответствующим приближению тонкого кристалла и при расширении области изменения степени упругой деформации появляется возможность управления интервалом и характером изменения отношения $R_{id}/R_{ib}$, а в результате – чувствительностью ДЗ ПИИДД к типу и характеристикам микродефектов.

Ключевые слова: микродефекты, деформационные зависимости, полная интегральная интенсивность динамической дифракции.

URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ru/abstract/v36/i09/1271.html

PACS: 07.85.Jy, 61.05.cc, 61.05.cf, 61.05.cp, 61.72.Dd, 61.72.J-, 61.72.Lk


ЦИТИРОВАННАЯ ЛИТЕРАТУРА
  1. F. N. Chukhovskii and P. V. Petrashen’, Acta Crystallogr. A, 33: 311 (1977). Crossref
  2. В. Б. Молодкин, А. И. Низкова, А. П. Шпак, В. Ф. Мачулин, В. П. Кладько, И. В. Прокопенко, Р. Н. Кютт, Е. Н. Кисловский, С. И. Олиховский, Е. В. Первак, И. М. Фодчук, А. А. Дышеков, Ю. П. Хапачев, Дифрактометрия наноразмерных дефектов и гетерослоев кристаллов (Киев: Академпериодика: 2005).
  3. В. Б. Молодкин, М. В. Ковальчук, В. Ф. Мачулин, А. И. Низкова, Э. Х. Мухамеджанов, С. В. Лизунова, В. П. Кладько, С. В. Дмитриев, И. Н. Заболотный, Н. П. Ирха, С. М. Бровчук, Я. В. Василик, В. В. Лизунов, А. А. Катасонов, И. И. Рудницкая, В. С. Харченко, А. Е. Благов, В. В. Молодкин, Е. В. Первак, Р. В. Лехняк, Металлофиз. новейшие технол., 34, № 9: 1163 (2012).
  4. S. M. Brovchuk, V. B. Molodkin, A. I. Nizkova, I. I. Rudnytska, G. I. Grankina, V. V. Lizunov, S. V. Lizunova, B. V. Sheludchenko, E. S. Skakunova, S. V. Dmitriev, I. N. Zabolotnyi, A. A. Katasonov, B. F. Zhuravlev, R. V. Lekhnyak, L. N. Skapa, and N. P. Irha, Металлофиз. новейшие технол., 36, № 8: 1035 (2014). Crossref
  5. M. A. Krivoglaz, X-Ray and Neutron Diffraction in Nonideal Crystals (Berlin: Springer: 1996). Crossref
  6. В. В. Лизунов, В. Б. Молодкин, С. В. Лизунова, Н. Г. Толмачев, Е. С. Скакунова, С. В. Дмитриев, Б. В. Шелудченко, С. М. Бровчук, Л. Н. Скапа, Р. В. Лехняк, Е. В. Фузик, Металлофиз. новейшие технол., 36, № 7: 857 (2014). Crossref