В работе установлено и количественно проанализировано различие деформационных зависимостей (ДЗ) когерентной ($R_{ib}$) и диффузной ($R_{id}$) составляющих полной интегральной интенсивности динамической дифракции (ПИИДД) как между собой, так и для каждого из нескольких типов дефектов, одновременно присутствующих в монокристаллическом образце. Это открывает принципиальную возможность определения параметров дефектов разного типа при использовании (наряду с вариацией условий дифракции) различных участков ДЗ ПИИДД с резкой ДЗ $R_{id}/R_{ib}$ (вклада диффузной составляющей). Показано, что при изменении условий Лауэ-дифракции от соответствующих приближению толстого кристалла к соответствующим приближению тонкого кристалла и при расширении области изменения степени упругой деформации появляется возможность управления интервалом и характером изменения отношения $R_{id}/R_{ib}$, а в результате – чувствительностью ДЗ ПИИДД к типу и характеристикам микродефектов.