В роботі встановлено та кількісно проаналізовано ріжницю деформаційних залежностей (ДЗ) когерентної ($R_{ib}$) та дифузної ($R_{id}$) складових повної інтеґральної інтенсивности динамічної дифракції (ПІІДД) як між собою, так і для кожного з декількох типів дефектів, одночасно присутніх у монокристалічному зразку. Це відкриває принципову можливість визначення параметрів дефектів різного типу з використанням (разом з варіяцією умов дифракції) різних областей ДЗ ПІІДД з різкою ДЗ $R_{id}/R_{ib}$ (внеску дифузної складової). Показано, що при зміні умов Лауе-дифракції від відповідних наближенню товстого кристалу до відповідних наближенню тонкого кристалу та при розширенні области зміни ступеня пружньої деформації з’являється можливість керування інтервалом і характером зміни відношення $R_{id}/R_{ib}$, а в результаті – чутливістю ДЗ ПІІДД щодо типу й характеристик мікродефектів.