Физическая природа и методические основы диагностики с использованием эффекта асимметрии азимутальной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции рентгеновских лучей в кристаллах с нарушенным поверхностным слоем
В. Б. Молодкин$^{1}$, А. И. Низкова$^{1}$, Е. И. Богданов$^{1}$, В. В. Лизунов$^{1}$, Н. Г. Толмачев$^{2}$, С. В. Дмитриев$^{1}$, Я. В. Василик$^{1}$, С. В. Лизунова$^{1}$, А. Г. Карпов$^{2}$, О. Г. Войток$^{2}$, В. П. Почекуев$^{2}$
$^{1}$Институт металлофизики им. Г.В. Курдюмова НАН Украины, бульв. Академика Вернадского, 36, 03142 Киев, Украина
$^{2}$ООО «Центр новейшей диагностики», бульв. Академика Вернадского, 36, 03142 Киев, Украина
Получена: 19.05.2017. Скачать: PDF
Проведён детальный анализ физической природы и разработаны методические основы диагностики с использованием обнаруженного авторами эффекта асимметрии азимутальной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции рентгеновских лучей, нормированной на азимутальную зависимость интегральной интенсивности динамической дифракции идеального кристалла. С учётом того, что эта асимметрия появляется за счёт интерференции лучей, дифрагированных в кинематически и динамически рассеивающих слоях, и растёт с увеличением толщины кинематически рассеивающего слоя, созданы и реализованы практически основы неразрушающего метода экспериментального определения толщин таких слоёв.
Ключевые слова: динамическая дифракция, азимутальная зависимость, полная интегральная интенсивность, нарушенный поверхностный слой.
URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ru/abstract/v39/i06/0753.html
PACS: 61.05.C-, 61.72.Dd, 68.49.Uv, 68.65.Ac, 81.70.Fy