Физическая природа и методические основы диагностики с использованием эффекта асимметрии азимутальной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции рентгеновских лучей в кристаллах с нарушенным поверхностным слоем
В. Б. Молодкин1, А. И. Низкова1, Е. И. Богданов1, В. В. Лизунов1, Н. Г. Толмачев2, С. В. Дмитриев1, Я. В. Василик1, С. В. Лизунова1, А. Г. Карпов2, О. Г. Войток2, В. П. Почекуев2
1Институт металлофизики им. Г.В. Курдюмова НАН Украины, бульв. Академика Вернадского, 36, 03142 Киев, Украина
2ООО «Центр новейшей диагностики», бульв. Академика Вернадского, 36, 03142 Киев, Украина
Получена: 19.05.2017. Скачать: PDF
Проведён детальный анализ физической природы и разработаны методические основы диагностики с использованием обнаруженного авторами эффекта асимметрии азимутальной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции рентгеновских лучей, нормированной на азимутальную зависимость интегральной интенсивности динамической дифракции идеального кристалла. С учётом того, что эта асимметрия появляется за счёт интерференции лучей, дифрагированных в кинематически и динамически рассеивающих слоях, и растёт с увеличением толщины кинематически рассеивающего слоя, созданы и реализованы практически основы неразрушающего метода экспериментального определения толщин таких слоёв.
Ключевые слова: динамическая дифракция, азимутальная зависимость, полная интегральная интенсивность, нарушенный поверхностный слой.
URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ru/abstract/v39/i06/0753.html
PACS: 61.05.C-, 61.72.Dd, 68.49.Uv, 68.65.Ac, 81.70.Fy