Фізична природа та методичні основи діягностики з використанням ефекту асиметрії азимутальної залежности повної інтеґральної інтенсивности динамічної дифракції Рентґенових променів у кристалах з порушеним поверхневим шаром
В. Б. Молодкін1, Г. І. Низкова1, Є. І. Богданов1, В. В. Лізунов1, М. Г. Толмачев2, С. В. Дмітрієв1, Я. В. Василик1, С. В. Лізунова1, А. Г. Карпов2, О. Г. Войток2, В. П. Почекуєв2
1Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України, бульв. Академіка Вернадського, 36, 03142 Київ, Україна
2ТОВ «Центр новітньої діагностики», бульв. Академіка Вернадського, 36, 03142 Київ, Україна
Отримано: 19.05.2017. Завантажити: PDF
Проведено детальну аналізу фізичної природи та розроблено методичні основи діягностики з використанням встановленого авторами ефекту асиметрії азимутальної залежности повної інтеґральної інтенсивности динамічної дифракції Рентґенових променів, нормованої на азимутальну залежність інтеґральної інтенсивности динамічної дифракції ідеального кристалу. Із врахуванням того, що ця асиметрія з’являється за рахунок інтерференції променів, які дифрагують у шарах, що розсіюють кінематично й динамічно, та збільшується зі збільшенням товщини шару, що розсіює кінематично, створено і реалізовано практично основи неруйнівного методу експериментального визначення товщин таких шарів.
Ключові слова: динамічна дифракція, азимутальна залежність, повна інтеґральна інтенсивність, порушений поверхневий шар.
URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ua/abstract/v39/i06/0753.html
PACS: 61.05.C-, 61.72.Dd, 68.49.Uv, 68.65.Ac, 81.70.Fy