Прикладные возможности рентгеновской топографии кристаллов в косоасимметричной схеме дифракции на отражение
И. М. Фодчук1, Р. А. Заплитный1, Ю. Т. Роман1, В. Б. Молодкин2, Т. П. Владимирова2, З. Свянтек3
1Черновицкий национальный университет имени Юрия Федьковича, ул. Коцюбинского, 2, 58012 Черновцы, Украина
2Институт металлофизики им. Г. В. Курдюмова НАН Украины, бульв. Академика Вернадского, 36, 03142 Киев, Украина
3Институт металлургии и материаловедения, Польская академия наук, ул. Реймонта, 25, 30-059 Краков, Польша
Получена: 03.03.2018. Скачать: PDF
Показаны прикладные возможности использования модифицированного топографического метода Берга–Баррета в косоасимметричной схеме дифракции рентгеновских лучей на отражение при исследовании морфологии и структурных изменений вблизи поверхности кристаллов. Контролируемое изменение экстинкционной глубины проникновения рентгеновских лучей открывает новые возможности исследования структурных изменений в полупроводниковых материалах после различных внешних воздействий.
Ключевые слова: рентгеновская дифракция, рентгеновская топография, структурная диагностика, метод Берга–Баррета.
URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ru/abstract/v40/i05/0561.html
PACS: 07.85.-m, 41.50.+h, 61.05.C-, 61.72.Ff, 68.55.J-, 68.55.Ln, 81.05.Dz