Аномальная чувствительность к микродефектам деформационной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции в монокристаллах
В. Б. Молодкин, А. И. Низкова, В. В. Лизунов, В. В. Молодкин, Е. Н. Кисловский, Я. В. Василик, О. В. Решетник, Т. П. Владимирова, А. А. Белоцкая, Н. В. Барвинок
Институт металлофизики им. Г. В. Курдюмова НАН Украины, бульв. Академика Вернадского, 36, 03142 Киев, Украина
Получена: 15.05.2018. Скачать: PDF
Работа посвящена экспериментальному изучению диагностических возможностей метода деформационных зависимостей (ДЗ) полной интегральной интенсивности динамической дифракции (ПИИДД) для монокристаллов с микродефектами в случае, когда диффузная составляющая ПИИДД может быть соизмеримой с её когерентной составляющей или существенно превышать её. Показано, что в этом случае ДЗ ПИИДД аномально чувствительны и уникально информативны при их использовании для определения характеристик микродефектов в многопараметрических монокристаллических системах.
Ключевые слова: интегральная динамическая дифрактометрия, диффузное рассеяние, микродефекты.
URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ru/abstract/v40/i08/1123.html
PACS: 07.85.Jy, 61.05.cc, 61.05.cp, 61.72.Dd, 81.40.Ef, 81.70.-q