Аномальна чутливість до мікродефектів деформаційної залежності повної інтегральної інтенсивності динамічної дифракції в монокристалах
В. Б. Молодкін, Г. І. Низкова, В. В. Лізунов, В. В. Молодкін, Є. М. Кисловський, Я. В. Василик, О. В. Решетник, Т. П. Владімірова, А. О. Білоцька, Н. В. Барвінок
Інститут металофізики ім. Г. В. Курдюмова НАН України, бульв. Академіка Вернадського, 36, 03142 Київ, Україна
Отримано: 15.05.2018. Завантажити: PDF
Роботу присвячено експериментальному вивченню діягностичних можливостей методи деформаційних залежностей (ДЗ) повної інтеґральної інтенсивности динамічної дифракції (ПІІДД) для монокристалів з мікродефектами у випадку, коли дифузна складова ПІІДД може бути співмірною з її когерентною складовою або значно перевищувати її. Показано, що в цьому випадку ДЗ ПІІДД аномально чутливі й унікально інформативні при використанні їх для визначення характеристик мікродефектів у багатопараметричних монокристалічних системах.
Ключові слова: інтеґральна динамічна дифрактометрія, дифузне розсіяння, мікродефекти.
URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ua/abstract/v40/i08/1123.html
PACS: 07.85.Jy, 61.05.cc, 61.05.cp, 61.72.Dd, 81.40.Ef, 81.70.-q