Processing math: 100%

Формирование напылённых индиевых наносистем с использованием поверхностей (0001) InSe в качестве шаблона

П. В. Галий1, Т. М. Ненчук1, А. Цижевский2, П. Мазур2, Я. М. Бужук1, З. М. Любунь1, О. Р. Дверий3

1Львовский национальный университет имени Ивана Франко, ул. Университетская, 1, 79000 Львов, Украина
2Университет Вроцлава, Институт экспериментальной физики, пл. Макса Борна, 9, 50-204 Вроцлав, Польша
3Национальная академия сухопутных войск имени гетмана Петра Сагайдачного, ул. Героев Майдана, 32, 79026, Украина

Получена: 10.06.2019. Скачать: PDF

Поверхность двумерного слоистого полупроводникового кристалла InSe использовалась в качестве матрицы для направленной сборки наноструктур индия. Исследование формирования наносистемы In/(0001)InSe проводилось с использованием данных сканирующей туннельной микроскопии. Индий термически напыляли на структурно совершенные поверхности скалывания кристаллов InSe, полученные в экспериментальных условиях сверхвысокого вакуума. Удалось добиться формирования точечных наноразмерных структур треугольной формы в результате процесса вторичного смачивания поверхности твёрдого тела вследствие её нагрева выше температуры плавления индия. Кроме того, пространственное расположение таких наноструктур обуславливается гексагональной симметрией поверхностной решётки InSe.

Ключевые слова: сканирующая туннельная микроскопия, дифракция медленных электронов, слоистый кристалл, селенид индия, направленная шаблоном сборка наноструктур, гетеро-наноструктуры.

URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ru/abstract/v41/i10/1395.html

PACS: 68.35.Ct, 68.37.Ef, 68.47.De, 68.47.Fg, 68.65.-k, 73.20.At, 81.16.Dn


ЦИТИРОВАННАЯ ЛИТЕРАТУРА
  1. L. Yu. Kharkhalis, K. E. Glukhov, and M. Sznajder, Acta Phys. Polonica A, 126 (5): 1146 (2014). Crossref
  2. A. Politano, D. Campi, M. Cattelan, I. Ben Amara, S. Jaziri, A. Mazzotti, A. Barinov, B. Gürbulak, S. Duman, S. Agnoli, L. S. Caputi, G. Granozzi, and A. Cupolillo, Scientific Reports, 7: 3445 (11pp) (2017). Crossref
  3. D. A. Bandurin, A. V. Tyurnina, G. L. Yu, A. Mishchenko, V. Zólyomi, S. V. Morozov, R. K. Kumar, R. V. Gorbachev, Z. R. Kudrynskyi, S. Pezzini, Z. D. Kovalyuk, U. Zeitler, K. S. Novoselov, A. Patanè, L. Eaves, I. V. Grigorieva, V. I. Fal’ko, A. K. Geim, and Y. Cao, Nat. Nanotechnol., 12: 223 (2017). Crossref
  4. P. V. Galiy, T. M. Nenchuk, A. Ciszewski, P. Mazur, I. R. Yarovets’, and O. R. Dveriy, Metallofiz. Noveishie Tekhnol., 39, No. 7: 995 (2017). Crossref
  5. T. Komesu, H. Yi, S. Gilbert, K. Fukutani, A. J. Yost, A. Lipatov, A. Sinitskii, Ya.B. Losovyj, P. Galiy, J. Avila, C. Chen, M. C. Asensio, and P. A. Dowben, Symp. F: Surfaces and Interfaces in Multilayered Thin Films and Nano-Composites (E-MRS 2018) (September 17–19, 2018, Warsaw), p. F.5.1.
  6. J.-S. Rhyee, K. H. Lee, S. M. Lee, E. Cho, S. I. Kim, E. Lee, Y. S. Kwon, J. H. Shim, and G. Kotliar, Nature, 459: 965 (2009). Crossref
  7. R. A. Hughes, E. Menumerov, and S. Neretina, Nanotechnology, 28: 282002 (24pp) (2017). Crossref
  8. P. Galiy, P. Mazur, A. Ciszewski, T. Nenchuk, and I. Yarovets, Eur. Phys. J. Plus, 134: 70 (2019). Crossref
  9. P. V. Galiy, T. M. Nenchuk, P. Mazur, A. Ciszewski, and I. R. Yarovets, Molecular Crystals and Liquid Crystals, 674, Iss. 1: 11 (2018). Crossref
  10. K. Imai, K. Suzuki, T. Haga, Y. Hasegawa, and Y. Abe, J. Crystal Growth, 54, No. 3: 501 (1981). Crossref
  11. D. W. Boukhvalov, B. Gürbulak, S. Duman, L. Wang, A. Politano, L. S. Caputi, G. Chiarello, and A. Cupolillo, Nanomaterials (Basel), 7, No. 11: E372 (2017). Crossref
  12. P. V. Galiy, T. M. Nenchuk, and J. M. Stakhira, J. Phys. D: Appl. Phys., 34, No. 1: 18 (2001). Crossref
  13. I. Horcas, R. Fernandez, J. M. Gomez-Rodriguez, J. Colchero, J. Gomez-Herrero, and A. M. Baro, Rev. Sci. Instrum., 78: 013705 (2007). Crossref
  14. D. M. Bercha, K. Z. Rushchanskii, L. Yu. Kharkhalis, and M. Sznajder, Condensed Matter Physics, 3, No. 4: 749 (2000). Crossref
  15. V. G. Dubrovskii, Nucleation Theory and Growth of Nanostructures (Berlin: Springer-Verlag Berlin Heidelberg: 2014). Crossref