В работе рассмотрено влияние примеси углерода, внесённой в наноплёнку железа, на электрические свойства системы металл–полупроводник. Объектами исследования являются образцы на полупроводниковых подложках $p$- и $n$-типов из 16-ти контактов диаметром 2 мм и толщиной до 100 нм, восемь из которых из чистого железа и восемь из железа, легированного углеродом. Показано, что при легировании железа углеродом на подложке $n$-типа возникает выпрямляющий контакт типа диода Шоттки, что связано с увеличением работы выхода из металла. Рассчитана высота потенциального барьера, возникающего за счёт такого увеличения работы выхода. Полученные в ходе расчёта результаты объясняют появление области с отрицательным дифференциальным сопротивлением на вольт-амперных характеристиках системы Fe$\backslash$MgO$\backslash$Fe при легировании одного слоя ферромагнетика углеродом.