Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия кристаллических соединений с развитой дислокационной структурой
И. М. Фодчук1, А. Р. Кузьмин1, И. И. Гуцуляк1, Н. С. Солодкий1, А. Л. Маслянчук1, Ю. Т. Роман1, В. П. Кладько2, А. Й. Гудыменко2, В. Б. Молодкин3, В. В. Лизунов3
1Черновицкий национальный университет имени Юрия Федьковича, ул. Коцюбинского, 2, 58012 Черновцы, Украина
2Институт физики полупроводников им. В. Е. Лашкарёва НАН Украины, просп. Науки, 41, 03028 Киев, Украина
3Институт металлофизики им. Г. В. Курдюмова НАН Украины, бульв. Академика Вернадского, 36, 03142 Киев, Украина
Получена: 16.06.2021. Скачать: PDF
Структурные дефекты кристаллических соединений влияют на работоспособность приборов, изготовленных на их основе. Предложена методика расчета дислокационной структуры таких соединений с промежуточными значениями плотностей дислокаций (∼105–106 см−2). Показано влияние различного рода дефектов на формирование диффузной и когерентной составляющих распределений интенсивности рассеяния рентгеновских лучей. Рассмотрены возможные дислокационные реакции, как на границах блоков, так и внутри кристаллов. На основе кинематической теории Кривоглаза с использованием метода Монте-Карло исследовано возможную дислокационную систему в виде набора полных 60°-дислокаций и частичных дислокаций.
Ключевые слова: кристаллические соединения, высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия, дефектная структура, метод Монте-Карло, кривые качания, карты обратного пространства.
URL: https://mfint.imp.kiev.ua/ru/abstract/v43/i10/1289.html
PACS: 07.85.-m, 61.05.cc, 61.72.Lk, 61.72.Mm