Детектирование геликальних андреевских краевых состояний с помощью измерений дробового шума

Е. С. Житлухина$^{1,2}$, Пауль Зайдель$^{3}$

$^{1}$Донецкий физико-технический институт им. А. А. Галкина НАН Украины, просп. Науки, 46, 03028 Киев, Украина
$^{2}$Донецкий национальный университет имени Васыля Стуса, ул. 600-летия, 21, 21021 Винница, Украина
$^{3}$Institut für Festkörperphysik, Friedrich-Schiller-Universität Jena, 3 Helmholtzweg, DE-07743 Jena, Germany

Получена: 08.12.2021. Скачать: PDF

Теоретически показано, что комбинация двух электронных методов измерения спектров проводимости и дробового шума может быть эффективным методом обнаружения винтовых андреевских краевых состояний в квантовых когерентных проводниках. Для того чтобы реализовать эту методологию практически, мы предлагаем интерферометрическую фазочувствительную конфигурацию, состоящую из двух независимых сканирующих остриев, нормального и сверхпроводящего, и показываем, что соответствующий краевой ток сильно зависит от приложенного магнитного поля.

Ключевые слова: геликоидальные андреевские краевые токи, двухзондовое сканирующее устройство, сверхпроводящее острие, спектры электронного дробового шума.

URL: https://mfint.imp.kiev.ua/ru/abstract/v44/i03/0289.html

PACS: 68.47.De, 73.63.-b, 73.63.Rt, 74.45.+c

ЦИТИРОВАННАЯ ЛИТЕРАТУРА

S. M. Girvin and K. Yang, Modern Condensed Matter Physics (Cambridge University Press: 2019). Crossref
M. Belogolovskii, E. Zhitlukhina, and P. Seidel, Low Temp. Phys., 47, No. 12: 996 (2021). Crossref
S. Yao, F. Song, and Z. Wang, Phys. Rev. Lett., 121, No. 13: 136802 (2018). Crossref
Z. Gong, Y. Ashida, K. Kawabata, K. Takasan, S. Higashikawa, and M. Ueda, Phys. Rev. X, 8, No. 3: 031079 (2018). Crossref
C. Wang and X. R. Wang, Hermitian Chiral Boundary States in Non-Hermitian Topological Insulators.
Ya. M. Blanter and M. Büttiker, Phys. Rep., 336, Nos. 1–2: 1 (2000). Crossref
M. Herz, S. Bouvron, E. Cavar, M. Fonin, W. Belzig, and E. Scheer, Nanoscale, 5, No. 20: 9978 (2013). Crossref
L. Saminadayar, D. C. Glattli, Y. Jin, and B. Etienne, Phys. Rev. Lett., 79, No. 13: 2526 (1997). Crossref
E. Zhitlukhina, I. Devyatov, O. Egorov, M. Belogolovskii, and P. Seidel, Nanoscale Res. Lett., 11, No. 1: 58 (2016). Crossref
E. Zhitlukhina, M. Belogolovskii, and P. Seidel, Appl. Nanosci., 12: 377 (2022). Crossref
M. R. Sahu, A. K. Paul, J. Sutradhar, K. Watanabe, T. Taniguchi, V. Singh, S. Mukerjee, S. Banerjee, and A. Das, Phys. Rev. B, 104, No. 8: L081404 (2021). Crossref
R. de Picciotto, M. Reznikov, M. Heiblum, V. Umansky, G. Bunin, and D. Mahalu, Nature, 389, No. 6647: 162 (1997). Crossref
M. Kumar, O. Tal, R. H. M. Smit, A. Smogunov, E. Tosatti, and J. M. Van Ruitenbeek, Phys. Rev. B, 88, No. 24: 245431 (2013). Crossref
A. Burtzlaf, A. Weismann, M. Brandbyge, and R. Berndt, Phys. Rev. Lett., 114, No. 1: 016602 (2015). Crossref
R. Vardimon, M. Klionsky, and O. Tal, Nano Lett., 15, No. 6: 3894 (2015). Crossref
A. N. Pal, D. Li, S. Sarkar, S. Chakrabarti, A. Vilan, L. Kronik, A. Smogunov, and O. Tal, Nature Commun., 10, No. 1: 5565 (2019). Crossref
O. Zarchin, M. Zaffalon, M. Heiblum, D. Mahalu, and V. Umansky, Phys. Rev. B, 77, No. 24: 241303 (2008). Crossref
M. Kumar, R. Avriller, A. Levy Yeyati, and J. M. van Ruitenbeek, Phys. Rev. Lett., 108, No. 14: 146602 (2012). Crossref
R. Ben-Zvi, R. Vardimon, T. Yelin, and O. Tal, ACS Nano, 7, No. 12: 11147 (2013). Crossref
M. A. Bandres and M. V. Segev, Physics, 11, 96 (2018). Crossref
M. Kolmer, P. Olszowski, R. Zuzak, S. Godlewski, C. Joachim, and M. Szymonski, J. Phys.: Condens. Matter, 29, No. 44: 444004 (2017). Crossref
V. M. Svistunov, A. I. D’yachenko, and M. A. Belogolovskii, J. Low Temp. Phys., 31, Nos. 3–4: 339 (1978). Crossref