Термічне розширення поверхні стопу FeNi51

М. О. Васильєв$^{1}$, В. М. Шиванюк$^{1}$, В. М. Колесник$^{1}$, С. М. Волошко$^{2}$, В. В. Янчук$^{2}$, І. О. Круглов$^{2}$

$^{1}$Інститут металофізики ім. Г. В. Курдюмова НАН України, бульв. Академіка Вернадського, 36, 03142 Київ, Україна
$^{2}$Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського», просп. Перемоги, 37, 03056 Київ, Україна

Отримано: 03.04.2018. Завантажити: PDF

Вперше низькоенергетичну плазмонну спектроскопію на відбивання застосовано для визначення коефіцієнта термічного розширення (КТР) поверхні полікристалічного стопу FeNi51. Експеримент проведено за умов надвисокого вакууму. Методу визначення КТР засновано на мірянні температурної залежности зсувів енергії поверхневих і об’ємних плазмонів у інтервалі температур від кімнатної до 300°C. Розрахунок дав наступні значення КТР: $\alpha_{\textrm{s}} =$ 7,54$\cdot$10$^{-5}$ К$^{-1}$ і $\alpha_{\textrm{b}} =$ 4,24$\cdot$10$^{-5}$ К$^{-1}$ за зсувами поверхневих і об’ємних плазмонів відповідно.

Ключові слова: поверхня стопу, коефіцієнт термічного розширення, плазмони, плазмонна спектроскопія.

URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ua/abstract/v40/i06/0739.html

PACS: 65.40.De, 71.45.Gm, 73.20.Mf, 73.50.Mx, 79.20.Hx, 79.20.Uv, 82.80.Pv


ЦИТОВАНА ЛІТЕРАТУРА
  1. Б. А. Нестеренко, О. В. Снитко, Физические свойства атомно-чистой поверхности полупроводников (Киев: Наукова думка: 1983).
  2. М. А. Васильев, Структура и динамика поверхности переходных металлов (Киев: Наукова думка: 1988).
  3. В. Е. Корсуков, Физика твёрдого тела, 25: 3250 (1983).
  4. M. A. Vasil’ev and S. D. Gorodetsky, Vacuum, 37: 723 (1987). Crossref
  5. В. Т. Черепин, М. А. Васильев, Методы и приборы для анализа поверхности материалов: Справочник (Киев: Наукова думка: 1982).
  6. M. A. Vasylyev and V. A. Tinkov, Surf. Rev. Lett., 15: 635 (2008). Crossref
  7. В. А. Тиньков, Успехи физики металлов, 7: 117 (2006). Crossref
  8. C. Colliex, M. Kociak, and O. Stéphan, Ultramicroscopy, 162: A1 (2016). Crossref
  9. Yo. Fujiyoshi, T. Nemoto, and H. Kurata, Ultramicroscopy, 175: 116 (2017). Crossref
  10. A. Bagchi, C. B. Duke, P. J. Feibelman, and J. O. Porteus, Phys. Rev. Lett., 27: 998 (1971). Crossref
  11. В. Е. Корсуков, А. С. Лукьяненок, В. Н. Светлов, Поверхность. Физика, химия, механика, № 11: 28 (1983).