Розширення рентґенівських дифракційних ліній мартенситу вуглецевих криць
В. А. Лободюк
Інститут металофізики ім. Г. В. Курдюмова НАН України, бульв. Академіка Вернадського, 36, 03142 Київ, Україна
Отримано: 12.03.2024; остаточний варіант - 09.04.2024. Завантажити: PDF
На основі уявлень про кристалічну структуру мартенситу вуглецевих криць як систему блоків із кристалічних ґратниць із атомом С на осі блоків дано пояснення розширення рентґенівських дифракційних ліній мартенситу та появи дублетів дифракційних ліній.
Ключові слова: вуглецева криця, мартенсит, кристалічна структура, ґратниця, блок, ширина дифракційної лінії.
URL: https://mfint.imp.kiev.ua/ua/abstract/v46/i06/0609.html
PACS: 61.05.cp, 61.50.Ks, 61.66.Dk, 61.72.Bb, 61.72.Dd, 61.72.S-, 81.30.Kf