Формування хемічно впорядкованої фази L1$_{0}$(FePt) в нанорозмірній плівковій композиції Fe$_{50}$Pt$_{50}$ (15 нм)/Au (30 нм)/Fe$_{50}$Pt$_{50}$ (15 нм) при відпалі у вакуумі

Ю. М. Макогон, О. П. Павлова, С. І. Сидоренко, Т. І. Вербицька, М. Ю. Вербицька, О. В. Фігурна

Національний технічний університет України «КПІ», пр. Перемоги, 37, 03056 Київ, Україна

Отримано: 25.02.2014. Завантажити: PDF

Методами фізичного матеріялознавства (рентґеноструктурною фазовою аналізою і мірянням магнетних властивостей на SQUID (superconducting quantum interference device)-магнетометрі) досліджено вплив додаткового проміжного шару Au завтовшки у 30 нм у нанорозмірній плівковій композиції (НПК) Fe$_{50}$Pt$_{50}$ (15 нм)/Au (30 нм)/Fe$_{50}$Pt$_{50}$ (15 нм) на підложжях SiO$_{2}$ (100 нм)/Si(001) на процеси дифузійного фазоутворення – перехід хемічно невпорядкованої магнетом’якої фази А1(FePt) у хемічно впорядковану магнетотверду фазу L1$_{0}$(FePt) при відпалі у вакуумі за температури 600°C з різною тривалістю. Встановлено, що в НПК Fe$_{50}$Pt$_{50}$ (15 нм)/Au (30 нм)/Fe$_{50}$Pt$_{50}$ (15 нм) фазовий перехід А1(FePt) → L1$_{0}$(FePt) починається під час відпалу за температури 600°C тривалістю 30 с, що на 100°C нижче в порівнянні з плівкою стопу Fe$_{50}$Pt$_{50}$. Атоми Au при термічному обробленні дифундують по межах зерен фази L1$_{0}$(FePt), обмежують їх зростання і магнетну взаємодію. Це супроводжується збільшенням коерцитивної сили, але зберігається ізотропія магнетних властивостей незалежно від напрямку магнетного поля.

Ключові слова: магнетні властивості, хемічно впорядкована фаза L1$_{0}$(FePt), проміжний шар Au, відпал.

URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ua/abstract/v36/i11/1513.html

PACS: 66.30.Pa, 68.55.-a, 75.50.Ss, 75.50.Vv, 75.70.Cn, 81.40.Ef, 81.40.Rs


ЦИТОВАНА ЛІТЕРАТУРА
  1. M. H. Kryder, Computerworld. Storage Networking World (April 3–6, 2006, San Diego) (San Diego, California: Manchester Grand Hyatt: 2006), p. 350.
  2. O. A. Ovanov, L. V. Solina, V. A. Demshina et al., Phys. Met. Metallogr., 35: 81 (1973).
  3. B. Wang, K. Barmak, and T. J. Klemmer, IEEE Trans. Magn., 46, No. 6: 1773 (2010). Crossref
  4. C. Feng, Q. Zhan, B. Li et al., Appl. Phys. Lett., 93: 152513 (2008) Crossref
  5. K. Barmak, J. Kim, L. H. Lewis et al., J. Appl. Phys., 98: 033904 (2005) Crossref
  6. P. Rasmussen, X. Rui, and J. E. Shield, Appl. Phys. Lett., 86: 191915 (2005). Crossref
  7. Ю. М. Макогон, О. П. Павлова, Т. І. Вербицька, І. А. Владимирський, Наукові вісті, № 6: (2011).
  8. K. Barmak, J. Kim, L. H. Lewis et al., J. Appl. Phys., 98: 033904 (2005). Crossref
  9. A. C. Sun, F. T. Yuan, J.-H. Hsu, J. Physics: Conference Series, 200: 1020099 (2010). Crossref
  10. А. С. Камзин, Е. В. Снеткова, З. Янг, Ф. Вей, В. Хианг, Письма в ЖТФ, 34, вып. 1: 57 (2008).
  11. С. С. Горелик, Л. Н. Расторгуев, Ю. А. Скаков, Рентгеноструктурный и электроннооптический анализ (Москва: Металлургия: 1970).
  12. O. P. Pavlova, T. I. Verbitska, I. A. Vladymyrskyi, S. I. Sidorenko, G. L. Katona, D. L. Beke, G. Beddies, M. Albrecht, and I. M. Makogon, Appl. Surf. Sci., 266: 100 (2013). Crossref
  13. R. V. Chepulskii and S. Curtarolo, Appl. Phys. Lett., 97: 221908 (2010). Crossref
  14. C. Feng, Q. Zhan, B. Li et al., Appl. Phys. Lett., 93: 152513 (2008). Crossref
  15. C. Feng, B.-H. Li, Y. Liu et al., Appl. Phys., 103: 023916 (2008). Crossref