Структурні, електричні та магнеторезистивні властивості заміщених стронцієм манганітів лантану

Т. І. Полек $^{1}$ , О. І. Товстолиткін $^{1}$ , С. О. Солопан $^{2}$ , А. Г. Білоус $^{2}$ , С. В. Недух $^{3}$ , С. І. Тарапов $^{3}$

$^{1}$ Інститут магнетизму НАН та МОН України, бульв. Академіка Вернадського, 36б, 03142 Київ, Україна
$^{2}$ Інститут загальної та неорганічної хімії ім. В.І. Вернадського НАН України, просп. Академіка Палладіна, 32/34, 03680 Київ, Україна
$^{3}$ Інститут радіофізики та електроніки ім. О.Я. Усикова НАН України, вул. Академіка Проскури, 12, 61085 Харків, Україна

Отримано: 25.06.2015; остаточний варіант - 17.08.2015. Завантажити: PDF

Досліджено структурні, електричні та магнеторезистивні властивості зразків La $_{1-x}$ Sr $_{x}$ MnO $_{3}$ ( $х = 0,15—0,60$ ), виготовлених золь—ґель-методою. Кристалографічні параметри визначалися за допомогою рентґенівської дифракції. Вимірювання електричних властивостей виконувалися в температурному інтервалі 77—380 К як у магнетному полі, так і без нього. Проаналізовано температурні залежності електричних та магнеторезистивних властивостей сполуки при різних концентраціях Sr. Встановлено концентраційну залежність температури Кюрі $Т_{С}$ для сполуки La $_{1-x}$ Sr $_{x}$ MnO $_{3}$ .

Ключові слова: заміщений манганіт, золь—ґель-метода, перехід метал—діелектрик, магнетоопір.

URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ua/abstract/v37/i10/1395.html

PACS: 61.66.Fn, 71.30.+h, 75.47.Gk, 75.47.Lx, 81.20.Fw, 81.40.Rs

ЦИТОВАНА ЛІТЕРАТУРА

E. Dagotto, T. Hotta, and A. Moreo, Phys. Rep., 344, No. 1: 1 (2001). Crossref
V. M. Loktev and Yu. G. Pogorelov, Low Temperature Physics, 26, No. 3: 171 (2000). Crossref
A. I. Tovstolytkin, A. N. Pogorily, S. V. Cherepov, G. V. Bondarkova, and V. I. Silantiev, Metallofiz. Noveishie Tekhnol., 22, No. 11: 23 (2000).
X. Moya, L. E. Hueso, F. Maccherozzi, A. I. Tovstolytkin, D. I. Podyalovskii, C. Ducati, L. C. Phillips, M. Ghidini, O. Hovorka, A. Berger, M. E. Vickers, E. Defay, S. S. Dhesi, and N. D. Mathur, Nature Materials, 12, No. 1: 52 (2013). Crossref
M. B. Salamon and J. Marcelo, Rev. Mod. Phys., 73, No. 3: 583 (2001). Crossref
K. Dörr, J. Phys. D: Appl. Phys., 39, No. 7: 125 (2006). Crossref
H. Béa, M. Gajek, M. Bibes, and A. J. Barthélémy, J. Phys. Condens. Matter, 20, No. 43: 434221 (2008). Crossref
Y. Tokura and Y. Tomioka, J. Magn. Magn. Mater., 200, No. 1: 1 (1999). Crossref
A. Urushibara,Y. Moritomo, T. Arima, A. Asamitsu, G. Kido, and Y. Tokura, Phys. Rev. B, 51, No. 20: 14103 (1995). Crossref
A. Anane, C. Dupas, K. Le Dang, J. P. Renard, P. Veillet, A. M. Guevara, F. Millo, L. Pinsard, and A. Revcolevschi, J. Phys.: Condens. Matter, 7, No. 35: 7015 (1995). Crossref
R. Helmolt, J. Wecker, K. Samwer, L. Haupt, and K. Bärner, J. Appl. Phys., 76, No. 10: 6925 (1994). Crossref
A. Caneiro, L. Morales, F. Prado, D. G. Lamas, R. D. Sanchez, and A. Serquis, Phys. Rev. B, 62, No. 10: 6825 (2000). Crossref
H. Fujishiro, M. Ikebe, and Y. Konno, J. Phys. Soc. Jpn., 67, No. 5: 1799 (1998). Crossref
T. V. Kalmykova, S. V. Nedukh, S. Y. Polevoy, A. A. Kharchenko, S. I. Tarapov, D. P. Belozorov, A. N. Pogorily, T. I. Polek, V. A. Pashchenko, and O. M. Bludov, Low Temperature Physics, 41, No. 4: 273 (2015). Crossref
A. G. Belous, O. I. V’yunov, E. V. Pashkova, O. Z. Yanchevskii, A. I. Tovstolytkin, and A. N. Pogorily, Inorg. Mater., 39, No. 2:161 (2003). Crossref
S. O. Solopan, O. I. V’yunov, A. G. Belous, T. I. Polek, and A. I. Tovstolytkin, Solid State Sciences, 14, No. 4: 501 (2012). Crossref
H. M. Rietveld, J. Appl. Crystallogr., 2, No. 2: 65 (1969). Crossref
The International Centre for Diffraction Database PDF – 2 cart number 89-0682.
The International Centre for Diffraction Database PDF – 2 cart number 84-1612.
P. Shiffer, A. P. Ramirez, W. Vao, and S.-W. Cheong, Phys. Rev. Lett., 75, No. 18: 3336 (1995). Crossref
A. I. Tovstolytkin, A. N. Pogorilyi, E. V. Shypil, and D. I. Podyalovski, Phys. Met. Metallogr., 91, No. 1: S214 (2001).
H. Kuwahara, Y. Tomioka, A. Asamitsu, Y. Moritomo, and Y. Tokura, Science, 270, No. 5238: 961 (1995). Crossref
H. Fujishiro, F. Tetsuo, and M. Ikebe, J. Phys. Soc. Jpn., 67, No. 8: 2582 (1998). Crossref