Ефекти повної багатократності дифузного розсіяння в кристалах з дефектами другого класу за Кривоглазом
С. В. Дмітрієв, В. Б. Молодкін, М. Г. Толмачов, О. С. Скакунова, С. В. Лізунова, Р. В. Лехняк, К. В. Фузік, Г. О. Веліховський, О. П. Васькевич, В. В. Лізунов, А. А. Катасонов, І. Е. Голентус, С. Й. Оліховський, Л. М. Скапа, В. В. Молодкін
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України, бульв. Академіка Вернадського, 36, 03680, МСП, Київ-142, Україна
Отримано: 28.12.2016. Завантажити: PDF
Створено теоретичну модель динамічної дифракції рентґенівських променів у кристалах з дефектами довільних типів, що вперше враховує ефекти повної (а не лише другого порядку теорії збурень) багатократності розсіяння дифузних і когерентних хвиль на флуктуаційній частині кристалічного потенціалу. Зокрема, одержано вирази для дисперсійних поправок до когерентного та дифузного хвильових полів, що враховують повну багатократність розсіяння, як на періодичній, так і на флуктуаційній частинах кристалічного потенціалу. Показано необхідність і достатність використання зазначених поправок у формулах для інтенсивності дифракції при діагностиці дефектів другого класу за М. О. Кривоглазом.
Ключові слова: динамічна дифракція, дифузне розсіяння, дисперсійний механізм, багатократність дифузного розсіяння, мікродефекти.
URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ua/abstract/v39/i01/0001.html
PACS: 61.05.cc, 61.05.cf, 61.05.cp, 61.72.Dd, 61.72.Lk, 61.72.Qq