Loading [MathJax]/jax/output/HTML-CSS/jax.js

Характеризація швидкостей одиничних поверхневих акустичних хвиль (ПАХ) стопів Ti–6Al–4V як функції поруватости за моделюванням сканувальної акустичної мікроскопії (САМ) для застосувань

Я. Аль-Саяд, З. Хаджуб, А. Догман

Badji Mokhtar University, BO 12, CP 23000 Annaba, Algeria

Отримано: 24.11.2017. Завантажити: PDF

Режими Релейових хвиль залежать від пористости стопу Ti–6Al–4V, яка становить 60–75%. Це дуже важливо для багатьох застосувань і розуміння сполучних пристроїв при поширенні поверхневих акустичних хвиль. Швидкості визначалися за допомогою аналізи усічених кривих акустичних характеристик, одержаних шляхом реєстрації вихідного сиґналу V. Моделюванням поверхневих акустичних хвиль вимірювалися Релейові швидкості. Визначено акустичні параметри: поздовжні (VL), поперечні (VT) швидкості та швидкість Релея (VR) — від 1139 мс1 до 285 мс1, від 87 мс1 до 143 мс1 та від 562 мс1 до 136 мс1 відповідно (при пористості від 60% до 75%).

Ключові слова: стоп Ti–6Al–4V, Релейова швидкість, акустична мікроскопія, модуль Юнґа, моделювання поверхневих акустичних хвиль.

URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ua/abstract/v40/i03/0411.html

PACS: 46.40.Cd, 61.43.Gt, 62.20.D-, 62.30.+d, 68.37.Tj, 81.05.Rm, 81.70.Cv


ЦИТОВАНА ЛІТЕРАТУРА
  1. M. Peters, H. Hemptenmacher, J. Kumpfert, and C. Leyens, Titanium and Titanium Alloys (Eds. C. Leyens and M. Peters) (Weinheim: Wiley-VCH: 2003).
  2. G. Kotan and A. S¸akir Bor, Turkish J. Eng. Env. Sci., 31: 149 (2007).
  3. Sh. R. Bhattarai, Kh. A.-R. Khalil, M. Dewidar, P. H. Hwang, H. K. Yi, and H. Y. Kim, J. Biomedical Materials Research Part A, 86A, Iss. 2: 289 (2008). Crossref
  4. A. Briggs, Acoustic Microscopy (Oxford: Clarendon Press: 1992).
  5. J. David and N. Cheeke, Fundamentals and Applications of Ultrasonic (Boca Raton: CRC Press: 2002). Crossref
  6. I. A. Viktorov, Rayleigh and Love Waves. Section 1.1 (New York: Plenum: 1967). Crossref
  7. J. E. May, IEEE Spectrum, 2: 73 (1965). Crossref
  8. R. M. White and F. W. Voltmer, Appl. Phys. Lett., 7: 314 (1965). Crossref
  9. C.-C. Tseng, J. Appl. Phys., 38: 4281 (1967). Crossref
  10. C.-C. Tseng, J. Appl. Phys., 41: 2270 (1970). Crossref
  11. R. M. White, IEEE Trans. Elect. Dev., ED14: 181 (1967). Crossref
  12. H. F. Tiersten, J. Appl. Phys., 40: 770 (1969). Crossref
  13. D. L. White, IEEE Ultrasonics Symp. (Vancouver: 1967).
  14. E. Stern, Lincoln Lab. Tech., Note No. 1968-36, M.I.T. (1968).
  15. J. B. Liu, J. N. Peterson, F. Forsberg, M. D. Jaeger, D. B. Kynor, and R. J. Kline-Schoder, Ultrasonics, 42: 337 (2004). Crossref
  16. S. Bouhedja, I. Hadjoub, A. Doghmane, and Z. Hadjoub, phys. status solidi (a), 202: 1025 (2005). Crossref
  17. K. Wang, Mat. Sci. Eng. A, 213: 134 (1996). Crossref
  18. C. G. R. Sheppard and T. Wilson, Appl. Phys. Lett., 38: 858 (1981). Crossref
  19. J. Kushibiki and N. Chubachi, IEEE Sonics Ultrason., SU-32, No. 2, 189 (1985). Crossref
  20. R. G. Munro and J. Res, Nat. Inst. Stand. Technol., 105: 709 (2000). Crossref