Отримання, структурно-морфологічні характеристики та сенсорні властивості наносистем ZnO/CuO

Г. С. Корнющенко, В. В. Наталіч, В. І. Перекрестов

Сумський державний університет, вул. Римського-Корсакова, 2, 40007 Суми, Україна

Отримано: 13.06.2018; остаточний варіант - 12.03.2019. Завантажити: PDF

В роботі були вивчені процеси формування наносистем у вигляді мереж на основі ZnO/CuO та їх сенсорні властивості по відношенню до LPG (Liquefied Natural Gas), CO$_2$ і CO$_2$ + LPG. Відпрацьовано процеси окислення вихідних наносистем цинку в атмосфері повітря за різних температур та швидкостей початкового розігріву. В якості основного параметра оптимізації виступала можливість розпізнавання різних газових реагентів. Як було встановлено, найбільш оптимальним варіантом отримання розширеного масиву інформації, необхідної для розпізнавання реагентів, є дослідження вольт-амперних характеристик в цифровому варіанті зі строго визначеною швидкістю розгортки напруги. При цьому комплексні дослідження структурно-морфологічних характеристик та зарядопереносу показали, що ємність наносистем ZnO/CuO, в основному, обумовлена флуктуаціями товщин нанониток ZnO, а наявність складової CuO, в окремих випадках, підсилює сенсорну чутливість.

Ключові слова: наносистеми ZnO/CuO, сенсорні властивості, вольт-амперні характеристики, зярядоперенос, реактивний газ.

URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ua/abstract/v41/i07/0953.html

PACS: 68.35.bg, 68.47.Gh, 68.55.-a, 68.55.J-, 81.15.Rs, 82.47.Rs, 84.37.+q


ЦИТОВАНА ЛІТЕРАТУРА
  1. L.-C. Chao, S. Y. Tsai, C.-N. Lin, C.-C. Liau, and C.-C. Ye, Mater. Sci. Semicond. Process., 16, Iss. 5: 1316 (2013). Crossref
  2. O. F. Farhat, M. M. Halim, M. J. Abdullah, M. K. M. Ali, N. M. Ahmed, and M. Bououdina, Superlattices and Microstruct., 86: 236 (2015). Crossref
  3. M. Girtan, G. G. Rusu, S. Dabos-Seignon, and M. Rusu, Appl. Surf. Sci., 254, Iss. 13: 4179 (2008). Crossref
  4. S. Kim, M.-C. Jeong, B.-Y. Oh, W. Lee, and J.-M. Myoung, J. Cryst. Growth., 290, Iss. 2: 485 (2006). Crossref
  5. H.-Q. Liang, L.-Z. Pan, and Z.-J. Liu, Mater. Lett., 62, Iss. 12–13: 1797 (2008). Crossref
  6. Y. Liu, C. Pan, Y. Dai, and W. Chen, Mater. Lett., 62, Iss. 17–18: 2783 (2008). Crossref
  7. A. S. Kornyushchenko, V. I. Perekrestov, and Y. O. Rybalko. J. Nano- Electron. Phys., 10, Iss. 1: 01021 (2018). Crossref
  8. R. Muller, Sensors: a Comprehensive Survey (Eds. W. Göpel, J. Hesse, and C. N. Zemel) (Berlin: Wiley-VCH: 1989), vol. 1, p. 314.
  9. J. J. Chen, K. Wang, and W. L. Zhou, IEEE Trans. Nanotechnol., 10, Iss. 5: 968 (2011). Crossref
  10. E. J. Wolfrum, R. M. Meglen, D. Peterson, and J. Sluiter, Sens. Actuators, B, 115, Iss. 1: 322 (2006). Crossref
  11. P.-C. Chen, F. N. Ishikawa, H.-K. Chang, K. Ryu, and C. Zhou, Nanotechnology, 20, Iss. 12: 125503 (2009). Crossref
  12. A. Star, V. Joshi, S. Skarupo, D. Thomas, and J.-C. P. Gabriel, J. Phys. Chem. B, 110, Iss. 42: 21014 (2006). Crossref
  13. T. Kunt, T. J. McAvoy, R. E. Cavicchi, and S. Semancik, Proc. of ADCHEM, 1997: 91 (1997). Crossref
  14. A. S. Kornyushchenko, A. H. Jayatissa, V. V. Natalich, and V. I. Perekrestov, Thin Solid Films, 604, Iss. 1: 48 (2016). Crossref
  15. J. Cao and J. Wu, Mater. Sci. Eng. R Rep., 71, Iss. 2–4: 35 (2011). Crossref
  16. V. M. Latyshev, V. I. Perekrestov, A. S. Kornyushchenko, and I. V. Zahaiko, Funct. Mater., 24, Iss. 1: 154 (2017). Crossref
  17. V. A. Moshnikov, I. E. Gracheva, V. V. Kuznezov, A. I. Maximov, S. S. Karpova, and A. A. Ponomareva, J. Non-Cryst. Solids, 356, Iss. 37–40: 2020 (2010). Crossref
  18. N. Nasiri, R. Bo, F. Wang, L. Fu, and A. Tricoli, Adv. Mat., 27, Iss. 29: 4336 (2015). Crossref
  19. J. Jose and M. A. Khadar, Nanostruct. Mater., 11, Iss. 8: 1091 (1999). Crossref
  20. H. Q. Ni, Y. F. Lu, Z. Y. Liu, H. Qiu, W. J. Wang, Z. M. Ren, S. K. Chow, and Y. X. Jie, Appl. Phys. Lett., 79: 812 (2001). Crossref