Запропоновано спосіб виявлення слабких осциляцій в частотній залежності електропровідності металевих наночастинок. Обчислення здійснено на основі методу кінетичних рівнянь, який дозволяє ефективно враховувати розсіювання електронів на внутрішній поверхні частинки. Досліджувалась частотна залежність відношення кінетичної $\sigma_{\textrm{kinet}}$($\omega$) і класичної $\sigma_{\textrm{clas}}$($\omega$) електропровідностей для сферичних металевих наночастинок довільних розмірів. Встановлено підсилення слабких осциляцій кінетичної електропровідності металевої наночастинки з частотою у співвідношенні $\sigma_{\textrm{kinet}}$($\omega$)/$\sigma_{\textrm{clas}}$($\omega$). З’ясовано, що амплітуда осциляцій зростає зі зменшенням радіуса металевої наночастинки. Результат проілюстровано на прикладі наночастинки Ag.