Дослідження впливу продуктивности на структуроутворення поверхневих шарів крицевих деталів під час азотування методом електроіскрового леґування (ЕІЛ). II. Розробка математичного моделю для управління параметрами якости поверхневих шарів крицевих деталів під час азотування методом ЕІЛ
О. П. Гапонова$^{1,2}$, Н. В. Тарельник$^{3}$, О. В. Семерня$^{3}$
$^{1}$Сумський державний університет, вул. Харківська, 116, 40007 Суми, Україна
$^{2}$Інститут фундаментальних технологічних досліджень ПАН, вул. Павінського, 5В, 02-016 Варшава, Польща
$^{3}$Сумський національний аграрний університет, вул. Герасима Кондратьєва, 160, 40021 Суми, Україна
Отримано: 28.02.2024; остаточний варіант - 20.06.2025. Завантажити: PDF
В статті обґрунтовано важливість і актуальність проблеми керування якістю поверхневих шарів деталів. Представлено аналізу залежностей товщини зміцненого шару криці 20 і криці 40 та їхньої мікротвердости від технологічних параметрів електроіскрового леґування (ЕІЛ) за азотування з використанням спеціяльних технологічних насичувальних середовищ (СТНС). Встановлено, що за наявної технології зі збільшенням енергії розряду підвищується товщина зміцненого шару, яка складається з «білого» шару та дифузійної зони, а також мікротвердість поверхні. Ці параметри також зростають зі збільшенням часу оброблення певної площини (трудомісткости ЕІЛ) і зменшенням її оберненої величини, тобто кількости обробленої площини за одиницю часу (продуктивности леґування). В результаті проведених досліджень розроблено математичні моделі залежности параметрів якости поверхонь за азотування методом ЕІЛ з використанням СТНС (рівняння товщини зміцненого шару та рівняння мікротвердости поверхні) від енергетичних і технологічних параметрів обладнання ЕІЛ, а саме, енергії розряду та трудомісткости, що уможливлює визначати основні технологічні параметри сформованого шару: товщину зміцненого шару та мікротвердість поверхні.
Ключові слова: електроіскрове леґування, покриття, азотування, криця, товщина шару, мікротвердість, математичний модель.
URL: https://mfint.imp.kiev.ua/ua/abstract/v48/i02/0185.html
PACS: 62.20.Qp, 68.35.Ct, 68.35.Gy, 68.55.J-, 68.55.Ln, 81.15.Rs, 81.65.Lp