Методами Рентґенової фотоелектронної і тунельної спектроскопій досліджено електронну структуру аморфного металевого стопу Fe$_{77}$Si$_{8}$B$_{15}$. У окисненому поверхневому шарі досліджуваних сполук, окрім зв’язків С—С, спостерігаються зв’язки С=О, характерні для складних вуглецевих сполук. У окисненому шарі не зафіксовано бор та його сполуки. Спостерігається значна поверхнева сеґреґація кремнію, концентрація якого зберігається постійною як в окисненому шарі, так і за досліджуваною глибиною стрічки. В об’ємі стрічки виявлено присутність карбіду кремнію Si— C, а також незначні кількості кисню й азоту. Методою тунельної спектроскопії встановлено області зі зниженою провідністю, що характерно для утворення нанофаз заліза та кремнію. Спостерігаються істотні неоднорідності густини електронних станів на міжкластерних межах, що свідчить про їх складну організацію. Рівень Фермі досліджуваного стопу знаходиться в локальному мінімумі густини електронних станів, що відповідає критерію Наґеля—Таука стосовно утворення аморфного стану.