Застосування цифрового аналогу підвищення роздільчої здатности рентґенодифракційного обладнання для дослідження дефектного стану кристалічних матеріялів
Н. М. Роженко, О. М. Григор’єв, В. В. Картузов
Інститут проблем матеріалознавства ім. І. М. Францевича НАН України, вул. Академіка Кржижановського, 3, 03142 Київ, Україна
Отримано: 19.06.2018. Завантажити: PDF
Представлено методику аналізи форми рентґенівських ліній із застосуванням методи реґуляризації за Тихоновим до відновлення фізичного профілю (радіяльного розподілу інтенсивности відбивання, розширення якого спричинено виключно дефектами кристалічної структури). Запропоновано процедуру відокремлення ефектів дифракції Рентґенових променів на кристалічній ґратниці з мікродеформаціями та на областях когерентного розсіяння, яка ґрунтується на відновленні форми повного фізичного профілю, не потребує апріорних припущень щодо закону розподілу мікродеформацій і враховує тип функції розширення на областях когерентного розсіяння.
Ключові слова: рівняння згортки, фізичний профіль, дефекти кристалічної будови, розділення ефектів дифракції.
URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ua/abstract/v40/i09/1149.html
PACS: 07.85.-m, 61.05.cf, 61.05.cp, 61.72.Dd, 81.07.-b, 81.70.-q