Структурний аспект формування наносистеми In/In$_{4}$Se$_{3}$ (100)
П. В. Галій$^{1}$, П. Мазур$^{2}$, А. Ціжевський$^{2}$, Т. М. Ненчук$^{1}$, І. Р. Яровець$^{1}$, О. Р. Дверій$^{3}$
$^{1}$Львівський національний університет імені Івана Франка, вул. Університетська, 1, 79000 Львів, Україна
$^{2}$Університет Вроцлава, Інститут експериментальної фізики, пл. Макса Борна, 9, 50-204 Вроцлав, Польща
$^{3}$Національна академія сухопутних військ імені гетьмана Петра Сагайдачного, вул. Героїв Майдану, 32, 79012 Львів, Україна
Отримано: 12.04.2018. Завантажити: PDF
Самоорганізовані індійові наноструктури одержано на надвисоковакуумній поверхні сколювання (100) напівпровідникового шаруватого кристалу In$_4$Se$_3$. Невеликі швидкості та тривалості напорошення індію вибиралися з метою дослідження ростової орієнтації та природи наноструктур на поверхні (100)In$_4$Se$_3$, які вивчали за допомогою сканувальної тунельної мікроскопії (СТМ). Форма цих наноструктур безпосередньо залежить від концентрації надстехіометричного індію в розтопі під час вирощування кристалу, змінюючись від тривимірних острівців за низької концентрації до лінійних форм, тобто нанодротів, у випадку сильно леґованих індієм кристалів. СТМ з високим розріжненням уможливлює встановити, що квазиперіодичні нанодроти ростуть вздовж осі $c$ кристалу In$_4$Se$_3$ на поверхні (100). За допомогою сканувальної тунельної спектроскопії з просторовим розріжненням встановлено металічну природу поверхневих наноструктур на напівпровідниковій підкладинці. Встановлено, що механізм росту напорошених наноструктур зумовлений борознистою структурою ґратниці на поверхні (100) кристалу In$_4$Se$_3$ з наявністю у ній зародків індію у концентрації, яка залежить від кількости надстехіометричного ростового індію, що інтеркалюється у міжшарову щілину.
Ключові слова: шаруваті трихалькогеніди, самоорганізовані наноструктури, нанодроти, сканувальна тунельна мікроскопія, сканувальна тунельна спектроскопія.
URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ua/abstract/v40/i10/1349.html
PACS: 68.37.Ef,68.47.De,68.47.Fg,73.20.At,73.21.Hb,73.63.Nm,81.16.Dn,81.16.Rf