Аналіз рентґенівського муарового зображення деформованих кристалів за радіальним розподілом енергетичного спектру Фур’є

С. В. Баловсяк, С. М. Новіков, І. М. Фодчук, І. В. Яремчук

Чернівецький національний університет імені Юрія Федьковича, вул. Коцюбинського, 2, 58012 Чернівці, Україна

Отримано: 11.10.2018. Завантажити: PDF

Досліджено вплив величини рівномірно розподілених локальних зосереджених сил, які діють на вихідну поверхню аналізатора LLL-інтерферо¬метра, на формування муарової картини. Показано залежність розподілу інтенсивності енергетичного спектру Фур’є муарового зображення від величини зосереджених сил. Встановлено залежність між величиною локальних сил та середньою радіальною просторовою частотою радіального розподілу для енергетичного спектру муарового зображення, що дозволяє обчислювати значення залишкових деформацій у кристалах на основі експериментальних муарових зображень.

Ключові слова: LLL-інтерферометр, муарові смуги, зосереджена сила, деформаційне поле, енергетичний спектр Фур’є.

URL: http://mfint.imp.kiev.ua/ua/abstract/v41/i03/0389.html

PACS: 07.60.Ly, 41.50.+h, 42.30.Ms, 61.05.cp, 61.72.Dd, 87.59.-e

ЦИТОВАНА ЛІТЕРАТУРА

U. Bonse and M. Hart, Appl. Phys. Lett., 6, No. 8: 155 (1965). Crossref
A. Momose, T. Takeda, and Y. Itai, Jpn. J. Appl. Phys., 11, No. 11: 2303 (2003).
U. Bonse, W. Graeff, and G. Materlik, Revue De Physique Appliquée, 11: 83 (1976). Crossref
M. Ohler, S. Köhler, and J. Härtwig, Acta Cryst. A, 55: 423 (1999). Crossref
A. Momose, S. Kawamoto, and I. Koyama, Jpn. J. Appl. Phys., 42: 866 (2003). Crossref
R. Gevers, Phil. Mag., 7, No. 82: 1681 (1962). Crossref
G. Cristiansen, L. Gerward, and A. Lindegaart, J. Appl. Cryst., 4: 370 (1971). Crossref
M. Hart, Phil. Mag., 26, No. 4: 821 (1972). Crossref
R. D. Deslettes, A. Henins, H. Bowman, and R. Schoonover, Phys. Rev. Lett., 33: 463 (1974). Crossref
Н. Д. Раранский, В. П. Шафранюк, И. М. Фодчук, Металлофизика, 7, № 5: 63 (1985).
Н. Д. Раранский, И. М. Фодчук, В. Н. Сергеев, О. Г. Гимчинский и др., Металлофизика, 15, № 2: 72 (1993).
N. D. Raransky, Ja. M. Struk, I. M. Fodchuk, V. P. Shafranuk, and A. N. Raransky, Proc. SPIE, 2647: 457 (1995).
И. М. Фодчук, Н. Д. Раранский, Я. М. Струк, Металлофиз. новейшие технол., 24, № 5: 617 (2002).
И. М. Фодчук, Н. Д. Раранский, Я. М. Струк, Український фізичний журнал, 47, № 11: 1057 (2002).
I. M. Fodchuk and M. D. Raransky, J. Phys. D: Appl. Phys., 36: A55 (2003). Crossref
I. M. Fodchuk, S. M. Novikov, and I. V. Yaremchuk, Appl. Optics, 55, No. 12: B120 (2016). Crossref
И. М. Фодчук, С. М. Новиков, И. В. Яремчук, Металлофиз. новейшие технол., 38, № 3: 389 (2016). Crossref
A. Authier, Dynamical Theory of X-Ray Diffraction (Oxford: Science Publications: 2001).
Р. Гонсалес, Р. Вудс, Цифровая обработка изображений (Москва: Техносфера: 2005).
Р. Гонсалес, Р. Вудс, С. Эддинс, Цифровая обработка изображений в среде MatLab (Москва: Техносфера: 2006).
R. Gonzalez and R. Woods, Digital Image Processing, 2nd Edition, (Prentice Hall, Upper Saddle River: 2002).
S. Thonhpanja, A. Phinyomark, P. Phukpattaranont, and C. Limsakul, Electronika ir Elektrotechnika, 19, No. 3: 51 (2013).
S. Takagi, J. Phys. Soc. Jpn., 26, No. 5: 1239 (1969). Crossref
А. Ляв, Математическая теория упругости (Москва: Физматгиз: 1936).